im4000 离子束能量
日立高新离子研磨装置IM4000（HITACHI Ion Milling System IM4000 ）具有断面加工和平面研磨功能的混合仪器！ 日立高新离子研磨装置IM4000（HITACHI Ion Milling System IM4000 ）的混合模式带有两种研磨配置： 断面加工：将样品断面研磨光滑，便于表面以下结......
第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cryo-FIB）是一款专用的冷冻双束显微镜系统，可为高端冷冻透射断层扫描分析提供最佳的样品制备流程。核心优势:为使用 Autoloader 的透射制备冷冻断层扫描专用的冷冻......
效率和灵活性三离子束切割仪 Leica EM TIC 3X——新版 EM TIC 3X 恪守我们的格言：与用户合作，使用户受益”，以注重实用性的方式将性能和灵活性理想融合。最新的 EM TIC 3X 切割速度翻倍，根据您的应用需求提供五种不同的载物台供您选择，实用性得到进一步提升。For research use only Leica EM TIC......
在工业/ 医疗激光应用中，在激光器内部或激光器工作部件中集成激光功率探头是非常有效的实时监控激光状态，确保激光质量，预见和处理激光失效的方法。基于领先的激光功率能量计研发制造经验，OPHIR 公司提供各种可集成至用户系统的OEM 功率/ 能量探头。• 可适应直接测量、 采样测量、后镜漏光测量等多种测量方式；• 根据用户需求提供各种不同尺寸、不同封装和装卡方式......
点击查看下载FIB-SEMAquilos 2 Cryo-FIB（原FEI）冷冻聚焦离子束显微镜 样本相关资料，进一步了解产品。 赛默飞电子显微镜产品目录 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cryo-FIB）是一款专用的冷冻双束显微镜系统，可为高端冷冻透射断层扫描分析提供最......
徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 使用离子束制备SEM样品：EM TIC 3X三离子束研磨仪
参考成交价格： 100~200万元[人民币]
型号：Leica EM TIC 3X
徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 使用离子束制备SEM样品：EM TIC 3X三离子束研磨仪针对不同使用环境，有着不同的操作与维护流程，点击查看操作维修手册。 如今，离子束蚀刻技术是应用最广泛的电子显微镜样品制备方 法。在蚀刻过程中，高能氩离子束轰击样品，并根据其应用领域 调整 离子束能量和切割角度。 在制备扫描电子显微......
点击查看下载切割机德国 三离子束切割仪 EM TIC 3X徕卡 Leica EM TIC 3X三离子束切割仪产品单页相关资料，进一步了解产品。 徕卡Leica EM TIC 3X可通过离子束侧面轰击样品，获得高质量无应力“切割”截面，以便于SEM观察，及EDX或EBSD等分析。并可对样品进行离子束平面抛光，抛光面积达25mm。Leica EM TIC 3X适......
CleanMill Broad Ion Beam SystemHigh-quality observation and characterization of materials often require an artifact-free surface, which can be difficult to achieve with traditional......
产品描述Thermo Scientific™ Helios 5 Hydra CX DualBeam 是行业领先的 Helios DualBeam 系列第四代产品的一部分。它将新型创新的多种离子 PFIB 镜筒与单色 Thermo Scientific Elstar SEM 镜筒相结合，可提供较先进的聚焦离子和电子束性能。主要优点具有独特离子源的最大应用空间，......
简介日立离子研磨装置IM4000 II是一款集断面加工和平面研磨功能于一体的混合仪器，适用于高分辨成像及样品表面特性分析。该设备通过混合模式提供两种研磨配置，采用新型离子枪设计提高了加工效率，与前代产品相比，横截面研磨时间大幅减少，同时其可拆卸样品台设计方便了样品设置和研磨边缘定义。日立离子研磨装置IM4000 II 具有断面加工和平面研磨功能的混合仪器！日......