x射线荧光镀层厚度分析仪
仪器介绍 Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。 性能特点 满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求 φ0.1mm的......
岛津能量色散X射线荧光光谱仪EDX-LE Plus：技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 较大W370mm×D320mm×H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性......
技术指标型号：Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀（U）。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸......
TrueX COAT镀层分析仪集成了浪声前沿的科研创新，具有快速、高精准度、轻便、易携带等优点，其可对大量金属废料进行现场检测和快速分类，为使用者提供迅速高效、准确的数据信息，是钢铁冶炼、有色金属、石化精炼、精细化工、制药、电力电站、航空航天等行业在质量控制（QA/QC）、材料分析（PMI）、混料识别、废料分拣（Recyling）、牌号识别（Grade ID......
市场对通信电子、航空航天、计算机、汽车和其他行业对电子产品的日益依赖，正推动电子行业的快速增长，在电子行业不断推陈出新以满足更高期望的同时，对产品的质量控制也越来越严格。镀层作为保证电子行业产品质量可靠性和稳定性的主要工艺，其厚度是产品质量的最重要保证因素，因此，对镀层厚度的质量控制/保证至关重要，X射线荧光（XRF）因为其非破坏性、测量快速、易于使用，已成......
在有些情况，如：印刷线路板上的IC导线，接触针及导体的零件等测量要求较高 ,一般而言，测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求：1.不破坏的测量下具高精密度。2.极小的测定面积。3.中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响。4.同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜 。5.同时测量双合金的镀膜厚及成份。而X-射线荧光法就可在不受素材及不同中间膜的影响下得到高精密度的测量......
赛默飞 X射线荧光光谱仪ARL 9900参考多项行业标准。完成在线分析仪的检测。可以用在水泥行业领域中的自动校准项目。 Thermo Scientific™ AccuLINK™ 软件通过与实验室数据的 进行连续对比，自动及时、自动对分析仪进行动态校准，保 持分析仪校最佳的在线准确度。可针对实验室和在线元素分 析，赛默飞可提供一站式解决方案。 技术......
赛默飞波散型XRFARL Optim’X可用于测定块状固体,液体,松散粉末,不规则样品,滤纸,薄膜 ，适用于元素分析项目。并且参考多项行业标准。可应用于水泥行业领域。 ThermoFisher ARL X射线光谱仪瑞士工厂成立于1934年，拥有悠久的X射线生产技术和历史 对于金属工业中样品的常规分析，Thermo Scientific......
产品说明、技术参数及配置EDX-V是天瑞仪器集30多年X荧光膜厚测量技术,研发的一款X射线荧光镀层测厚及成分分析仪。仪器采用多导毛细管X射线光学系统,对于微米级尺寸电子零件、芯片针脚、晶圆微区等部件的镀层厚度和成分分析,能进行高效、准确的测量。性能优势1、结合镀层行业微小样品的检测需求,专门研发适用于镀层检测的超近光路系统,减少能量过程损耗。搭载先进的多导毛......
X射线荧光镀层测厚仪 EDX-T是天瑞仪器股份有限公司集30多年X荧光膜厚测量技术,研发的一款全新上照式X射线荧光分析仪,该款仪器配置嵌入集成式多准直孔、滤光片自动切换装置和双摄像头,不仅能展现测试部位的细节,也能呈现出高清广角视野;自动化的X/Y/Z轴的三维移动,实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种形态的样品进行......