牛津 离子束
JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统JIB-4000聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。被加速了的镓离子束经聚焦照射样品后，就能对样品表面进行SIM观察 、研磨，沉积碳和钨等材料。还可以为TEM成像制备薄膜样品，为观察样品内部制备截面样品。通过与SEM像比较，SIM像能清楚地显示出归因于晶体取向不同的电子通道衬度差异，这些都非......
第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cryo-FIB）是一款专用的冷冻双束显微镜系统，可为高端冷冻透射断层扫描分析提供最佳的样品制备流程。核心优势:为使用 Autoloader 的透射制备冷冻断层扫描专用的冷冻......
效率和灵活性三离子束切割仪 Leica EM TIC 3X——新版 EM TIC 3X 恪守我们的格言：与用户合作，使用户受益”，以注重实用性的方式将性能和灵活性理想融合。最新的 EM TIC 3X 切割速度翻倍，根据您的应用需求提供五种不同的载物台供您选择，实用性得到进一步提升。For research use only Leica EM TIC......
点击查看下载FIB-SEMAquilos 2 Cryo-FIB（原FEI）冷冻聚焦离子束显微镜 样本相关资料，进一步了解产品。 赛默飞电子显微镜产品目录 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cryo-FIB）是一款专用的冷冻双束显微镜系统，可为高端冷冻透射断层扫描分析提供最......
徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 使用离子束制备SEM样品：EM TIC 3X三离子束研磨仪
参考成交价格： 100~200万元[人民币]
型号：Leica EM TIC 3X
徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 使用离子束制备SEM样品：EM TIC 3X三离子束研磨仪针对不同使用环境，有着不同的操作与维护流程，点击查看操作维修手册。 如今，离子束蚀刻技术是应用最广泛的电子显微镜样品制备方 法。在蚀刻过程中，高能氩离子束轰击样品，并根据其应用领域 调整 离子束能量和切割角度。 在制备扫描电子显微......
点击查看下载切割机德国 三离子束切割仪 EM TIC 3X徕卡 Leica EM TIC 3X三离子束切割仪产品单页相关资料，进一步了解产品。 徕卡Leica EM TIC 3X可通过离子束侧面轰击样品，获得高质量无应力“切割”截面，以便于SEM观察，及EDX或EBSD等分析。并可对样品进行离子束平面抛光，抛光面积达25mm。Leica EM TIC 3X适......
赛默飞Helios 5 DualBeam 聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）
参考成交价格： 暂无
Thermo Scientific 双束聚焦扫描电镜（FIB-SEM）
型号：Helios 5 DualBeam
DUALBEAM 显微镜Helios 5 DualBeam用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。产品可实现先进的自动化操作，简单易用，并且能够进行高质量的亚表面 3D 表征。新一代 Thermo Scientific Helios 5 DualBeam 具有 Helios DualBeam 显微镜产品系列领先业界的高性能电子显微镜成像......
CleanMill Broad Ion Beam SystemHigh-quality observation and characterization of materials often require an artifact-free surface, which can be difficult to achieve with traditional......
产品描述Thermo Scientific™ Helios 5 Hydra CX DualBeam 是行业领先的 Helios DualBeam 系列第四代产品的一部分。它将新型创新的多种离子 PFIB 镜筒与单色 Thermo Scientific Elstar SEM 镜筒相结合，可提供较先进的聚焦离子和电子束性能。主要优点具有独特离子源的最大应用空间，......
fibTOF 将聚焦离子束二次离子质谱（FIB-SIMS）灵敏 3D化学成像通过将 FIB-SIMS 功能集成到 FIB-SEM 显微镜中，fibTOF 可提供纳米尺度的精确三维化学成像。元素和同位素三维成像 对大多数元素具有高灵敏度，包括氢、锂、硼和氟等低质量元素。可实现的空间分辨率 横向小于 50 纳米，深度小于 10 纳米。明确的元素标识 质量分辨率高......