helios 扫描显微镜
Helios DualBeam™扫描电子显微镜......
对高性能、高能效电子产品的需求正在推动具有更小、更密集的功能和复杂的3D结构的先进设备的发展。这些尖端微处理器、存储器件和其他产品的产能生产极具挑战性，需要对深埋在器件内部的特征进行高分辨率、原子级分析。透射电子显微镜（TEM）正日益成为这种分析的首选技术，并依赖于通过聚焦离子束（FIB）铣削生产的高质量样品。赛默飞世尔科技Helios 5 EXL Dual......
Helios DualBeam™扫描电子显微镜......
点击查看下载AFM及扫描探针SPM-9700扫描探针显微镜 型 扫描探针显微镜相关资料，进一步了解产品。 SPM-9700在基本观察功能的基础上融入了更强的测量功能，具备了卓越的信号处理能力，加上zei先进的VBDF功能，数字处理能力比同类产品提高40%，可得到更高分辨率、更高质量的观察图像。SPM-9700是一种全新的换代产品。 ......
点击查看下载扫描电镜Helios DualBeam™赛默飞 其他资料相关资料，进一步了解产品。 近年来，随着电动汽车和消费电子产品的高速发展，市场对电池的需求日益增长。锂离子电池由于它相比于其他商用可充电电池技术所具有的高能量以及高功率密度的性能优势而受到了极大的关注。为了进一步提高锂离子电池的性能以及安全性，从根本上了解电池材料的化学性质以及微观结构至关重......
点击查看下载扫描电子显微镜扫描电镜Helios DualBeam™ 应用于电子/半导体相关资料，进一步了解产品。 近年来，随着电动汽车和消费电子产品的高速发展，市场对电池的需求日益增长。锂离子电池由于它相比于其他商用可充电电池技术所具有的高能量以及高功率密度的性能优势而受到了极大的关注。为了进一步提高锂离子电池的性能以及安全性，从根本上了解电池材料的化学性质......
点击查看下载Helios DualBeam™扫描电子显微镜赛默飞 应用于地矿/有色金属相关资料，进一步了解产品。 热轧、热处理钢结构的评估 Helios DualBeam™扫描电子显微镜......
Helios 5 PFIB DualBeam无镓 STEM 和 TEM 样品制备多模式亚表面和 3D 信息新一代 2.5 μA 氙气电浆 FIB 色谱柱Helios 5 PFIB DualBeam用于 TEM 样品制备（包括 3D 表征、横截面成像和微加工）的等离子体聚焦离子束扫描电子显微镜。Plasma focused ion beam instrumen......
Helios Hydra DualBeam4 个快速切换离子种类（Xe、Ar、O、N），用于对种类最丰富的材料进行优化 PFIB 处理Ga-free TEM 样品制备极高分辨率 SEM 成像Helios 5 Hydra DualBeam具有多个离子种类、适用于 3D EM 和 TEM 样品制备的等离子聚焦离子束扫描电子显微镜检查。Thermo Scienti......
Helios 5 DualBeam全自动、高质量、超薄 TEM 样品制备高通量、高分辨率的亚表面和 3D 表征快速纳米原型设计能力Helios 5 DualBeam用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。产品可实现先进的自动化操作，简单易用，并且能够进行高质量的亚表面 3D 表征。新一代 Thermo Scientific Helios......