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无损三维电气故障定位随着“超越摩尔定律”技术的普及，封装和组装相关缺陷变得越来越难以识别。互连更加精细、更加复杂；芯片和封装被堆叠并平铺为复杂结构。焊点间距更小，而基板则采用更高的图案和嵌入式组件。缺陷在不断增加，缺陷检测则变得更加困难。通过使用具有最高灵敏度的高分辨率锁相热成像 (LIT)，Thermo Scientific™ ELITE™ 系统为各种缺陷......
在大体积样品上获得最高质量三个方向分辨率一致三维数据生命科学专用的 Thermo Scientific Volumescope 2 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是我们最先进的连续切面成像系统（Serial Block Face Imaging，SBFI）。该系统简单易用，让使用者能够完美精准的控制实验，已......
Thermo Scientific™ Quattro™ 将成像和分析的全面性能与独特的环境模式（ESEM）相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。如今，研究型实验室普遍要求现代的扫描电子显微镜可以适应多种多样的样品分析需求，希望在获得出色的图像质量的同时尽可能简化样品制备过程。Quat t r o 的场发射枪（FEG）确保了优异的分辨率，通过不同的探测器选......
Thermo Scientific™ Explorer™ 4 Analyzer 是用于颗粒物分布统计过程控制的解决方案，帮助确定制造工艺是否受控、查找颗粒以及大批量颗粒表征。Explorer 4 Analyzer 拥有强大的自动化和报告功能，占地面积小，使用维护成本低，对于寻求改善生产工艺和质量同时充分利用预算的企业而言是最佳解决方案。 Explorer 4......
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学......
产品描述 Thermo Scientific Talos F200S G2 200kV场发射扫描/透射电子显微镜（S/TEM）结合快速、多通道、高分辨率S/TEM 成像和精准成分分析，实现动态显微镜成像分析应用。凭借多种旨在提高吞吐量、精度和易用性的创新功能，Talos 已成为学术、政府和工业研究等各种环境下进行高级研究与分析的理想之......
产品描述ThermoScientific Talos F200SG 2200kV场发射扫描/透射电子显微镜（S/TEM）结合了快速、多通道、高分辨率S/TEM成像和精准成分分析，可用于动态显微镜成像分析应用。Talos具有多种创新功能，旨在提高吞吐量、精度和易用性，因此成为学术、政府和工业研究等不同环境下进行高级研究与分析的理想选择。产品参数Talos F2......
产品描述ThermoScientific Talos F200SG 2200kV场发射扫描/透射电子显微镜（S/TEM）结合快速、多通道、高分辨率S/TEM成像和精准成分分析，实现动态显微镜成像分析应用。凭借多种旨在提高吞吐量、精度和易用性的创新功能，Talos已成为学术、政府和工业研究等各种环境下进行高级研究与分析的理想之选。产品参数Talos F200S......
