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微区 XRF 是 SEM 中 EDS 分析的互补分析技术扫描电子显微镜 (SEM)的微区 X 射线荧光 (Micro-XRF) 技术是与传统能量分散光谱 (EDS)能力补充的无损分析技术。这种分析技术对于未知样品中元素成分的表征非常重要,而未知样品的尺寸可以从厘米尺寸的不均匀样品到微米尺寸的颗粒X射线激发源为微量元素的检测带来了更高的灵敏度(对于某些元素,检......

存在一系列不同的分析技术,以便从代表单一矿物相的较小区域获取地球化学信息。最常见的分析技术基于电子束(e-beam)源,即电子探针微分析仪 (EPMA) 或带有能量分散光谱仪的 SEM(SEM - EDS).同样,Micro-XRF 分析可被视为电子束激发的补充技术,它也提供小区域样本信息。Micro-XRF 基于光子激发,样品会直接通过 X 射线......

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