二次离子质谱仪市场分析
仪器简介：NexION™ 300，为您提供ICP-MS前所未有的稳定性，灵活性与卓越性能，是ICP-MS发展史上第一次真正意义的革命性突破。 NexION™ 300 是ICP-MS历史上第一次在一台仪器中同时提 供简单、方便的碰撞池和具有异常出色检出能力的真正反应池的创新仪器。 拥有专利的通用池技术（UCT, Universal Cell Technol......
多功能SIMS工具：高分析效率和全自动化的基准检测灵敏度IMS 7f-Auto是我们获得成功的IMS xf二次离子质谱仪（SIMS）产品系列的新型号。该仪器旨在提高高精度元素和同位素分析的易用性和生产率，已针对玻璃、金属、陶瓷、硅基，III-V和II-VI族化合物器件、散装物料、薄膜等一系列颇具挑战性的应用进行改良，可充分满足行业对高效器件开发和过程控制的要......
点击查看下载ICP-MSAgilent 电感耦合等离子体质谱仪安捷伦 Agilent 电感耦合等离子体质谱仪相关资料，进一步了解产品。 产品特性：● 优异的高盐基质耐受能力 — Agilent 7900 ICP-MS 的稳定等离子体和可选的超耐高盐进样系统 (UHMI) 可帮助您对高达 25% 总溶解固体 (TDS) 含量的样品进行常规测量，其......
点击查看下载安捷伦ICP-MSAgilent 电感耦合等离子体质谱仪 Agilent 电感耦合等离子体质谱仪相关资料，进一步了解产品。 AGILENT 7900 ICP-MS 开启了四极杆 ICP-MS 的新纪元世界上畅销的四极杆 ICP-MS 真的能更强 10 倍吗？答案是肯定的。新型 Agilent 7900 将再次重新定义 ICP-MS：高盐基质耐......
Hiden TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱工作站设计用于多种材料的表面分析和深度剖析应用，包括聚合物，药物，超导体，半导体，合金，光学和功能涂层以及电介质，检测限低于1ppm。TOF-qSIMS Workstation 包含了四极杆质谱和飞行时间质谱。四极杆qSIMS主要用于掺杂物深度剖析和薄层分析，低入射能力，高入射电流，溅射和分析连续进行，是典......
适用于半导体应用的高性能低能量SIMSIMS Wf和SC Ultra经专门设计，可充分满足高级半导体对动态SIMS测量日益增长的需求该仪器可提供大范围的冲击能量（150 eV到13 keV），不影响质量分辨率和一次离子束密度，可确保在高通量条件下为具挑战性的应用提供卓越的分析性能：超浅能量和高能量注入物、超薄氮氧化物、高k金属栅极、硅锗掺杂层，Si:C:P结......
描述：Hiden SIMS二次离子质谱工作站提供高性能静态和动态 SIMS 分析，用于的表面成份分析和深度剖析。SIMS 工作站(SIMS Workstation－a complete SIMS Analysis Facility) ，综合UHV / SIMS 设备，进行高级的表面分析。可靠的、普遍适用的SIMS分析工作站。·整合的离子源，便于RGA和SNM......
用于半导体晶圆厂中成分测量的全自动 SIMSAKONIS SIMS 工具通过直接在半导体生产线中提供对注入分布、成分分析和界面数据的高产量、高精度检测，填补了半导体制造工艺中的重要空白。AKONIS 有非常高的自动化水平，确保了各种工具在晶圆厂工艺控制和工具之间匹配方面的可重复性。AKONIS：SIMS 为晶圆厂带去了卓越品质！除传统的通过表征实验室为半导体......
MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子，所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面，应用于SIMS和SNMS的光学采样。特点·光栅控制，增强深度分析能力·所有能量范围内，离子行程的最小扰动，及恒定离子传输·灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器参数·质量数范围： 300amu，500am......
岛津DPiMS-2020是一种全新的质谱分析仪器，采用岛津LCMS-2020单四级质谱分析仪与探针电喷雾离子源相结合。该仪器利用精密的探针取样设计，可以在无需样品制备的情况下快速便捷地进行样品分析。它基于PESI技术，适用于化工、食品和生物制品领域中的样品无需制备条件下的快速质谱分析。岛津DPiMS-2020具有多项应用优势：1) 可直接对样品进行质谱分析，......