考古鉴定显微镜
产品说明、技术参数及配置仪器介绍EDX8000L 利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的权威部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样，一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中 Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、 Zr、Ba等化学成份......
工作原理能量色散x射线荧光光谱仪energy-disnersi}e x-ray flu-orexence spectromet。利用脉冲高度分析器进行能量色散的x射线荧光光谱仪公与波长色散x射线荧光光谱仪相比，它的结构简单。可使用小功率x射线管激发和简单的分光系统。采用半导体探测器和多道脉冲高度分析器可提高分辨本领，由微处理机处理，可同时恻定试样中}o一sn......
X射线X射线是一种电磁波，根据波粒二相性原理，X射线也是一种粒子，其每个粒子根据下列公式可以找到其能量和波长的一一对应关系。产品说明、技术参数及配置仪器介绍EDX8000L 利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的权威部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样，一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中 Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2......
特征X射线原子中的电子都在一个个电子轨道上运行，而每个轨道的能量都是一定的，叫能级。内层轨道能级较低，外层轨道能级较高，当内层的电子受到激发（激发源可以是电子、质子、a 粒子、l射线、 X射线等），有足够的能量跳出内层轨道，那么，较外层的电子跃迁到内层的轨道进行补充，由于是从高能级上跳往低能级上，所以会释放出能量，其能量以光的形式放出，这就是特征X射线。产品......
X荧光射线镀层厚度测量或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来对样品进行进行定性和定量分析。产品说明、技术参数及配置仪器介绍EDX8000L 利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的权威部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样，一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中 Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O......
徕卡比较、比对Leica FS C可用于测定宏观比对显微镜，适用于司法鉴定_公检法取证用显微镜项目。并且参考多项行业标准。可应用于其他临床/法医行业领域。 公安自动宏观比对显微镜 Leica FS C模块化设计的徕卡 FS C 自动宏观比对显微镜被广泛用于公安刑侦司法部门各种样品的比对分析，包含：弹道，工具印痕和文件比对。智能的自动化配合了杰出的人机工程学......
徕卡德国 公安手动宏观比对显微镜 Leica FS M用于测定宏观比对显微镜，符合行业标准。适用司法鉴定_公检法取证用显微镜项目。 公安手动宏观比对显微镜 Leica FS M徕卡FS M 手动控制的 公安宏观比对显微镜 提供了灵活方便舒适的使用，它是一台多用途的枪械和工具印痕鉴别仪器。.该万能系统可理想地同时观察物证，用于司法鉴定或培训。高质量的比对桥支......
X荧光考古分析仪 仪器介绍EDX8000L利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的权威部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样，一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V......
TrueX手持式考古分析仪是浪声专为文保考古领域提供的智能化、便携化的分析仪器，它能够对各类艺术品或文物进行非破坏性分析，即时获得样品中的主量元素、微量元素信息，进而为考古从业人员获取文物及艺术品的年代、产地、真伪、制作工艺以及如何进行文物保护提供可靠的数据支撑使用优势无损检测 无需制样，无需破坏文物1.5KG轻便易携，专为现场检测分析......
技术参数型号 PTRam 633激光功率 0~30mw光谱范围 200~3000cm-1分辨率 ≤7光谱频移示值误差≤3cm光谱频移重复性≤1cm-1积分时间1ms-30 min检测器型号Hamamatsu S7031-1006检测器制冷温度-25℃(最低)激光器类型Class IIIB Las......