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PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多场测量系统，该产品是一种革命性的原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括力、热、光、电等）。PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多场测量系统，该产品是一种革命性的原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括力、热、......
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统，是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量。PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统，是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体......
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量。PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统，是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体......
PicoFemto透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量。PicoFemto透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、......
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统，是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量。PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统，是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化......
原位MEMS-TEM-STM多场测量系统（非定量力+电+光+加热）是一种革命性的原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括力，热，光，电等），从而对材料或者器件等样品实现多重激励下的原位表征。原位MEMS-TEM-STM多场测量系统（非定量力+电+光+加热）是一种革命性的原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透......
中文名：纳米氧化铈英文名：Cerium oxide纯度：≥99.95% metals basis, 电子材料 > 无机和金属纳米材料应用 > 先进材料与制造 ......
中文名：碳英文名：Carbon纯度：纳米粉末,＜100 nm 粒径 (TEM)货号：C434781Cas号：7440-44-0产品介绍：碳纳米粉末具有非石墨结构，即不具有长的结构顺序。应用将纳米碳粉用于氧化处理纳米碳的对比研究。非石墨碳可以以涂层的形式用于锂离子电池。制备说明通过激光技术形成的无定形材料。查看阿拉丁官网此产品相关对应页面：https://ww......
中文名：铂英文名：Platinum纯度：纳米粉末 电子材料 > 无机和金属纳米材料 ......
Thermo Scientific™ Metrios™ AX S/TEM 是一款 60–200 kV 扫描/透射电子显微镜 (S/TEM)，它采用全新设计，能够在前所未有的通量水平上提供可重复的基于 TEM 和 STEM 的成像、分析和测量结果。Metrios AX S/TEM 配有一套软件，可支持提升生产率的自动化功能、基于机器学习的导航和全天候自动化等功......