贵金属x光谱仪
天瑞新型X荧光贵金属检测仪 EDX 3000 PLUS 在测量金、银、铂、钯等贵金属含量上功能独到。采用25mm2大面积铍窗探测器，可准确无误地分析出黄金，铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量，测试结果完全符合国标GB/T 18043-2000要求。 黄金贵重，仪器贵精。EDX 3000 PLUSzei闪耀的亮点在于超高精确度、......
传承了波长色散荧光光谱仪产品创新和领导地位的传统，赛默飞世尔科技开发了四款可预校准的分析仪，采用交钥匙工程解决方案以满足燃料和油品中的硫分析、炉渣分析、熟料和水泥分析以及中心实验室中多种材料分析。安装快速、方便，且工厂采用一系列参考样品精心调校该系列仪器，并可以在现场使用用户自己的标样进行最佳化，以提供精确、可靠的解决方案。 对于重、轻燃料及油品中......
利用原子荧光谱线的波长和强度进行物质的定性与定量分析的方法。原子蒸气吸收特征波长的辐射之后，原子激发到高能级，激发态原子接着以辐射方式去活化，由高能级跃迁到较低能级的过程中所发射的光称为原子荧光。当激发光源停止照射之后，发射荧光的过程随即停止。性能特点专业贵金属检测、镀层厚度检测任意多个可选择的分析和识别模型内置信噪比增强器有效提高仪器信号处理能力25倍以上......
根据荧光谱线的波长可以进行定性分析。在一定实验条件下，荧光强度与被测元素的浓度成正比。据此可以进行定量分析。 原子荧光光谱仪分为色散型和非色散型两类。两类仪器的结构基本相似，差别在于非色散仪器不用单色器。色散型仪器由辐射光源、单色器、原子化器、检测器、显示和记录装置组成。性能特点专业贵金属检测、镀层厚度检测任意多个可选择的分析和识别模型内置信噪比增强器有效提......
在有些情况，如：印刷线路板上的IC导线，接触针及导体的零件等测量要求较高 ,一般而言，测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求：1.不破坏的测量下具高精密度。2.极小的测定面积。3.中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响。4.同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜 。5.同时测量双合金的镀膜厚及成份。而X-射线荧光法就可在不受素材及不同中间膜的影响下得到高精密度的测量......
测厚仪的工作原理：荧光X射线测厚仪的工作原理是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。 仪器介绍 Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控......
波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X-射线信号。如果分光晶体和探测器作同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X-射线的波长及各个波长X-射线的强度。可以据此进行定性分析和定量分析。 天瑞新型X荧光贵金属分析仪EDX 3600继承了天瑞仪器EDX系列的准确、快速、无损、直观及环保......
赛默飞波散型XRFARL Optim’X可用于测定块状固体,液体,松散粉末,不规则样品,滤纸,薄膜 ，适用于元素分析项目。并且参考多项行业标准。可应用于水泥行业领域。 ThermoFisher ARL X射线光谱仪瑞士工厂成立于1934年，拥有悠久的X射线生产技术和历史 对于金属工业中样品的常规分析，Thermo Scientific......
产品说明、技术参数及配置天瑞新型X荧光贵金属检测仪 EDX 3000 PLUS 在测量金、银、铂、钯等贵金属含量上功能独到。采用25mm2大面积探测器，可准确无误地分析出黄金，铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量，测试结果完全符合国标GB/T 18043-2000要求。黄金贵重，仪器贵精。EDX 3000 PLUS闪耀的亮点在于高准确......
X荧光贵金属检测仪 符合国标GB/T 18043-2013对仪器分辨率的要求，本产品是在天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验基础之上研发的一款新型测试仪，采用新一代探测器及多道技术，实现高计数率，1秒出结果，准确分析贵金属含量。同时，具备二维移动平台及高清工业摄像头，实现样品......