颗粒度检测仪/硅片表面检测
Multisizer 3颗粒/细胞计数及粒度分析仪系列是迄今为止功能zei全、分辨率zei高的颗粒/细胞计数及粒度分析仪。应用库尔特原理的 Multisizer 3 库尔特计数器，通过一次测量，即可同时获得颗粒和细胞准确的计数，体积，质量和表面积大小分布等数据，整体颗粒和细胞测量范围由0.4μm到1200μm。其反应不受颗粒的颜色、形态、组成或来源的影响。库......
麦奇克拜尔比表面BELSORP MR1参考多项行业标准。完成药物的检测。可以用在制药/仿制药行业领域中的比表面和粒度分析项目。 产品参数测试原理动态气体流动法 Flow gas adsorption method测试模式单点/多点BET （多点需要多种混合气瓶）测试样品数1 个预处理站，1 个分析站吸附气体种类混气钢瓶(He/N2 , He/Kr)预处理温......
麦奇克拜尔比表面BELSORP MINI X可用于测定药物，适用于比表面和粒度分析项目。并且参考多项行业标准。可应用于原料药/中间体行业领域。 BELSORP MINI X 全自动比表面积及孔径分布测定仪基于BELSORP MINI II升级而来，是一款采用容量法测定样品比表面和孔径分布的分析仪，该仪器设计紧凑、分析精度高、重复性好、操作简便。仪......
安捷伦ICP-MS7900适用于金属污染物项目，参考多项行业标准。可以检测硅片表面等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 SME-ICP-MS 技术为硅片表面的痕量金属表征提供了一种灵敏且准确的方法。可在不到 20 分钟的时间内实现对硅片的前处理和分析，为生产质量评估提供实时数据。使用 STS 条件可基本消除......
安捷伦ICP-MS7900参考多项行业标准。完成硅片表面的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的金属污染物项目。 SME-ICP-MS 技术为硅片表面的痕量金属表征提供了一种灵敏且准确的方法。可在不到 20 分钟的时间内实现对硅片的前处理和分析，为生产质量评估提供实时数据。使用 STS 条件可基本消除采用&n......
安东帕X射线散射仪安东帕SAXSpace可以用在纳米材料行业领域，用来检测沉积在硅基底的FeO 纳 米 颗 粒，可完成化学品检测纳米结构分析项目。符合多项行业标准。 沉积在硅基底的FeO纳米颗粒GI-SAXS的测量可以通过SAXSess mc² 新的GI-SAXS样品台来实现。 仪器简介：SAXSpace（Small & Wide Angle X-R......
中图仪器WD4000半导体晶圆硅片表面3D量测系统采用光学白光干涉技术、精密 Z 向扫描模块和高精度 3D 重建算法，Z 向分辨率最高可到 0. 1nm。它通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV......
