日立公司生产的su8010冷场发射扫描电镜
2016年新年伊始，日本电子株式会社（JEOL）即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能，JEM-F200进行了全新设计，在保障各种功能达到极限的同时，追求操作的简单化和自动......
2020年02月14日，日本电子（JEOL Ltd.）总裁兼首席运营官Izumi Oi宣布发布全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2（GRAND ARM™2）。■ 主要特点1 超高空间分辨率与能谱分析的组合优化。新开发的FHP2物镜极靴的特点如下：1）提高了能谱分析效率到两倍以上。2）低光学系数，低Cc系数和低Cs系数使得超高空间分辨......
产品规格超高分辨极靴高分辨极靴分辨率TEM点分辨率0.19 nm0.23 nmSTEM-HAADF 像0.14 nm @冷场枪0.16 nm @冷场枪0.16 nm @热场枪0.19 nm @热场枪加速电压200 , 80 kV200 , 80 kV主要选配件能谱仪（EDS）、电子能量损失谱仪（EELS）、CCD相机、TEM/STEM断层扫描系统2016年新......
扫描电子显微镜Quattro ESEM环境扫描电镜环境扫描电镜(ESEM)，用于研究包括含水样品在内的各种样品。 联系我们主要特点性能数据相关资源应用技术技术文件联系我们Thermo Scientific Quattro ESEM将SEM成像与SEM分析的综合性能与独特的环境模式 (ESEM) 相结合，可在自然状态下研究样品。Quattro ESE......
扫描电镜Apreo 2 SEM场发射扫描电镜一款具备优异性能的多功能型成像及分析的扫描电镜联系我们主要特点性能数据相关资源应用技术技术文件联系我们材料表征先进的材料表征实验室需要使用最新技术，且将分析仪器（包括 SEM扫描电镜）的性能发挥到极致。这些实验室中绝大多数都是多用户使用，且不同用户的经验水平不尽相同，同时，扫描电镜的上机时间非常宝贵，因此......
集成了 化学分析和结构表征的高性能成像 新的 Thermo Scientific Apreo ChemiSEM 系统通过简化成像过程支持您的材料科学研究，可供专家用户和新手使用。凭借智能帧集成 (SFI) 和新开发的自动聚焦和自动散射等创新功能，它可以助您轻松获得清晰、高分辨率的图像以及元素分析 (EDS) 和衍射 (EBSD) 的结果。 ......
功能特点：1. 高分辨模式，高束流模式。大工作距离模式，磁性样品模式等多种工作模式。2. 采用新型E×B式探测器，可选择接受二次电子像或背散射像。3. 配有电子束减速功能，提高了图象质量。4. 配有电制冷能谱仪，可进行定点元素成分定性和无标样定量分析，并进行元素线扫描、面分布的分析。仪器说明：1. ......
FE-SEM获得的图像分辨率高，信息丰富，样品处理相对简单，并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构，因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生命科学、材料等领域。近年来，以Materials Integration为代表，其应用领域及用途在不断护展，短时间内获取大量数据，减轻作业负荷成为市场的一大需求。为满足这一需求，此次特推出的SU8600系列秉承了......
简介SU8700作为一款面向新时代的FE-SEM，继承了日立电镜一贯的高图像质量和高稳定性，并新增了自动获取数据等高通量功能。其特点包括自动调整功能以避免人为操作差异、可选配“EM Flow Creator”实现自动化数据获取、最多可同时显示和存储6个检测器信号、单次扫描像素高达40,960 x 30,720，以及优化设计以增强信号检测能力，特别适合多领域材......