材料 检测 分析 设备
安东帕MCR 摩擦测量单元摩擦磨损利用 MCR 摩擦磨损分析仪精确的运动和力控制进行摩擦测量。采用多种经过设计、与 MCR 系列产品适合的附件。系统的用户友好型应用软件可以用旋转和振荡模式灵活地对所有附件进行测试编程，并且能够显示所有摩擦参数以及预定义的测量模板。您可使用该*装置获取 Stribeck 曲线和静摩擦值（包括起动扭矩），并结合法向力和温度控制应......
定制解决方案 针对特殊的摩擦学应用，如果当前的附件无法满足要求，Anton Paar可以提供定制的解决方案。基于Anton Paar高精度的加工能力以及创造性的研发及工程团队，我们可以定制样品夹持器/零部件，甚至完整的测量系统来满足您的特殊应用需求。利用流变仪进行尖端精度的摩擦学测量 通过MCR流变仪精确的......
牛津仪器半导体检测仪PlasmaPro 100 Cobra适用于Nano Material项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Nano Material等样品。可应用于纳米材料行业领域。 纳米材料生长和表征 紧密的设计，布局灵活实时清洗和终点监测特征牛津仪器的PlasmaPro 100系列具有200mm单晶圆和多晶圆批处理能力......
牛津仪器半导体检测仪PlasmaPro 100 Cobra用于测定Power Semiconductors，符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目。 失效分析 紧密的设计，布局灵活实时清洗和终点监测特征牛津仪器的PlasmaPro 100系列具有200mm单晶圆和多晶圆批处理能力。该工艺模式可提供出......
牛津仪器刻蚀和沉积设备PlasmaPro 100 Cobra可用于测定Nano Material，适用于Nano Material项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于纳米材料行业领域。 纳米材料生长和表征 PlasmaPro 100系列刻蚀和沉积设备可安装多种衬底电极，能够在很宽的温度范围内进行工艺，具有200mm单晶圆和......
牛津仪器半导体检测仪PlasmaPro 100 Cobra适用于Power Semiconductors项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Power Semiconductors等样品。可应用于纳米材料行业领域。 半导体制造解决方案 PlasmaPro 100系列刻蚀和沉积设备可安装多种衬底电极，能够在很宽的温度范围内进行工......
梅特勒托利多瑞士高温TGA热重分析仪（）TGA/DSC 1/1600适用于水份,溶剂,温度项目，参考多项行业标准GWP®准确测量 – 全球的衡量标准。可以检测材料等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 早在1964年，梅特勒就上市了第一台商品化的高温TGA/DTA同步热分析仪。40多年来，梅特勒托利多秉承一贯的精湛的制造工艺，不断革新、发......
梅特勒托利多同步热分析TGA/DSC 1专业型可以用在电子/半导体行业领域，用来检测材料，可完成水份,溶剂,温度项目。符合多项行业标准GWP®准确测量 – 全球的衡量标准。 在1964年，梅特勒就上市了第一台商品化的TGA/DTA同步热分析仪。40多年来，梅特勒托利多秉承一贯的精湛的制造工艺，不断革新、发展、完善，zei新的同步热分析仪TGA/DSC 1专......
梅特勒托利多瑞士TGA热重分析仪（）TGA/DSC 1/1100可以用在电子/半导体行业领域，用来检测材料，可完成水份,溶剂,温度项目。符合多项行业标准GWP®准确测量 – 全球的衡量标准。 主要型号: TGA/DSC1/1100 http://www.mt.com/TGA 查看更多信息 咨询电话：400......
梅特勒托利多瑞士热重及同步热分析仪TGA/DSC2可用于测定材料，适用于水份,溶剂,温度项目。并且参考多项行业标准GWP®准确测量 – 全球的衡量标准。可应用于电子/半导体行业领域。 Heating rate (LF/SF) 0.02…1......