spm 扫描 探针 显微镜
仪器简介： 扫描探针显微镜(SPM)平台是为了在纳米尺度研究样品的表面性质而设计的。它能够让我们在几微米到几个埃的尺寸下肉眼观察并定量测量样品的力学性质（硬度，弹性，粘度），电学性质（导电性，电容性，表面电荷分布）以及磁的性质。Solver 平台拥有超过40 种测量方法，并且实现在大气，气氛控制以及液体环境......
NTEGRA Spectra系统简介： NTEGRA Spectra - AFM / CONFOCAL RAMAN & FLUORESCENCE / SNOM / TERS 它将原子力显微镜、扫描近场光学显微镜，激光共聚焦显微镜、荧光光谱和拉曼光谱等各种分析手段完美地结合到一起。借助于针尖增强拉曼散射效应（TERS），其拉曼散......
仪器简介： 在过去，你必须花费相当长的一段时间并且具备相当丰富的经验才能通过操作一台扫描探针显微镜获得好的实验结果。 然而当你选择了SOLVER NEXT™之后，那些繁琐的培训几乎是不需要的。对，你没有看错！它是一台任何人都能操作的SPM! 只需要几分钟 ! SOLVER NEXT™ 是第一台新概念的通用SP......
探知未来原子力显微镜（AFM）是在样品表面用微小的探针进行扫描，通过高倍率观察三维形貌和局部物理特性的显微镜总称。SPM-9700HT更是性能高、速度快、操作简单的新一代扫描探针显微镜。 新开发的可快速响应的HT扫描器加之软件与控制系统设计的优化，成功实现扫描速度比传统设备快5倍以上。别具一格的探针更换夹具，让小心翼翼的探针更换操作变得简捷轻松。样......
从毫米到纳米的超大范围观察和测量自由切换多种显微镜观察模式 OLYMPUS LEXT OLS4500是结合了传统光学显微镜、激光扫描显微镜(LSM)以及扫描探针显微镜(SPM)功能的一体机。LEXT OLS4500可以满足不同样品的观测需求，是一台新时代的观察、测量装置。 LEXT OLS4500可以轻松实现从毫米到纳米的观......
扫描NV探针显微镜SNVM 扫描NV探针显微镜（Scanning nitrogen-vacancy probe microscope，SNVM）是一款结合了金刚石氮-空位色心（Nitrogen-Vacancy, NV）光探测磁共振（Optically Detected Magnetic Resonance, ODMR）技术和原子力显微镜（Atomi......
自动观察自动完成光路调整、扫描参数设定、图像处理 使用标准样品和标准探针时操作用时5分钟**自动观察模式，扫描范围1um× 1um ，256×256点阵。操作时长依赖于操作者。 传统的原子力显微镜需要人工调整光路、设定扫描参数、进行图像处理。但是SPM-Nanoa可以帮助用户毫无压力地完成这些操作性能优异从光学显微......
岛津电子探针EPMAEPMA-1720系列适用于 玻璃条纹缺陷的形貌及元素分析 项目，参考多项行业标准/ VBA。可以检测 玻璃 等样品。可应用于多个行业领域。 本文使用岛津扫描探针显微镜SPM和电子探针EPMA对三类玻璃条纹缺陷进行了测试和分析。在玻璃制品生产过程中，产生条纹的因素有很多，对于玻璃条纹缺陷形态、成分及元素分布特征的表征可以为条纹缺陷产生的原......
岛津电子探针EPMAEPMA-1720系列用于测定玻璃 ，符合行业标准/ VBA。适用 玻璃表面气泡区域的形貌及元素分析 项目。 采用SPM和EPMA技术观测玻璃表面的缺陷类型及缺陷处的元素分布，对玻璃生产加工工艺及质量控制可以起到一定的指导作用。 图为小孔穴中异物的分析实例。左下图为铁（Fe）、右下图为钛（Ti）的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角......
点击查看下载SPM-9700HT用纳米物理检测软件AFM及扫描探针SPM-9700HT软件 SPM-9700扫描探针显微镜相关资料，进一步了解产品。 纳米领域表面/界面物理性质可视化处理扫描探针显微镜的探针和样品之间的力随距离的变化而变化，通过测量作用于探针接近/离开样品时悬臂感受到的力的力（测量力曲线），可以检测表面/界面的物理性质。主要优点：1.通过测......