干涉相衬显微镜
MJ33-DIC微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色 差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工 程学、电子学等研究的理想仪器。MJ33-DIC微分干涉相衬显微镜 性能特点采用优良的无限远光学系统，可提供卓越的光......
PZ-20BDDIC型倒置金相显微镜采用优良的无限远光学系统，可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。模块化的功能设计，可以方便升级系统，实现偏振观察、暗视场观察、明视场微分干涉观察等功能。照明系统充分考虑散热性与安全性，可快速更换灯泡。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。可用于半导体硅晶片、LCD基......
PZ-100DI微分干涉相衬工业检测显微镜适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念，可以方便升级系统，实现偏光观察, DIC观察等功能，导柱升降装置，可以快速调整工作台与物镜之间的距离，适用于不同厚度工件检测。机械移动式载物平台有效定位工件观察部位。调焦机构采用圆柱滚子导向传动，机......
PZ-20DIC型倒置微分干涉相衬金相显微镜采用优良的无限远光学系统，可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。模块化的功能设计，可以方便升级系统，实现偏振观察、暗视场观察、明视场微分干涉观察等功能。照明系统充分考虑散热性与安全性，可快速更换灯泡。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。可用于半导体硅晶片、......
PZ-L3230 DIC微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色 差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。 性能特点:★ 采用优良的无限远光学系统，可提供......
H2320D微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色 差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。 性能特点★ 采用优良的无限远光学系统，可提供卓越的光学性能。★ 紧凑稳定的高......
HX-230D大型正置微分干涉相衬金相显微镜适用于对不透明物体的表面形态进行反射式微分干涉相衬观察，也可对透明物体进行透视显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念，可以方便升级系统，实现偏光观察、微分干涉相衬观察等功能，紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于金相组织......
MS-200D工业检测显微镜适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念，可以方便升级系统，实现偏光观察, DIC观察等功能，导柱升降装置，可以快速调整工作台与物镜之间的距离，适用于不同厚度工件检测。机械移动式载物平台有效定位工件观察部位。调焦机构采用圆柱滚子导向传动，机构升降平稳。产品适用于精密零件，集成电......
徕卡材料/金相显微镜DM4 M用于测定工业显微镜产品，符合行业标准。适用工业显微镜产品资料合集项目。 工业/材料显微镜-正置镜，倒置镜，偏光显微镜比对显微镜-宏观比对镜，微观比对镜 “可复制”意味着“可靠”在诸如钢铁夹杂物比例测定、粒子分析、相位或颗粒分析等应用中，可复制性至关重要。Leica DM4 M 和 Leica DM 6 M 显微镜系统值得您的信......
徕卡德国 智能正置金相显微镜 DM4 M可以用在多个行业领域，用来检测工业显微镜产品，可完成工业显微镜产品资料合集项目。符合多项行业标准。 工业/材料显微镜-正置镜，倒置镜，偏光显微镜比对显微镜-宏观比对镜，微观比对镜 “可复制”意味着“可靠”在诸如钢铁夹杂物比例测定、粒子分析、相位或颗粒分析等应用中，可复制性至关重要。Leica DM4 M 和 Leic......