icp oes/aas
Agilent 5110 同步垂直双向观测 (SVDV) ICP-OES 具有独特的智能光谱组合 (DSC) 技术，可以实现同步的水平和垂直测量。配合使用垂直炬管与速度更快且无需气体吹扫的 VistaChip II CCD 检测器，5100 ICP-OES（也称作 ICP-AES）能够以一半的氩气用量来运行zei具挑战的样品，速度可提升 55%，......
这款紧凑的台式 ICP-OES 可同时分析样品中的所有痕量元素。其垂直炬管定向系统提供出色的耐用性，可为径向观测和双向观测仪器提供耐腐蚀内炬盒。吹扫中阶梯光栅多色仪和电荷注入设备 (CID) 阵列检测器可实现高光通量，从而提供出色的检测限。 该系统包括：一台 3 通道的蠕动泵，可轻松添加在线内标或使用氢化物发生器附件。一根快速释放的半拆卸式炬管，易于维护。一......
iCAP™ 7400 ICP-OES 等离子体光谱仪ICP-AESiCAP 7400 iCAP7400 ICP-OES 和 iCE3300 AAS 测定原卤和淤泥中微量 Rb
参考成交价格： 暂无
型号：iCAP 7400
赛默飞ICP-AESiCAP 7400参考多项行业标准iCAP7400 ICP-OES 和 iCE3300 AAS 测定原卤和淤泥中微量 Rb 。完成iCAP7400 ICP-OES 和 iCE3300 AAS 测定原卤和淤泥中微量 Rb 的检测。可以用在土壤行业领域中的iCAP7400 ICP-OES 和 iCE3300 AAS 测定原卤和淤泥中微量 Rb......
赛默飞ICP-AESiCAP 7400可用于测定iCAP7400 ICP-OES 和 iCE3300 AAS 测定原卤和淤泥中微量 Rb ，适用于iCAP7400 ICP-OES 和 iCE3300 AAS 测定原卤和淤泥中微量 Rb 项目。并且参考多项行业标准iCAP7400 ICP-OES 和 iCE3300 AAS 测定原卤和淤泥中微量 Rb 。可应用......
ICP-AESiCAP™ 7400 ICP-OES 等离子体光谱仪iCAP 7400 适用于iCAP7400 ICP-OES 和 iCE3300 AAS 测定原卤和淤泥中微量 Rb
参考成交价格： 暂无
型号：iCAP 7400
赛默飞ICP-AESiCAP 7400用于测定iCAP7400 ICP-OES 和 iCE3300 AAS 测定原卤和淤泥中微量 Rb ，符合行业标准iCAP7400 ICP-OES 和 iCE3300 AAS 测定原卤和淤泥中微量 Rb 。适用iCAP7400 ICP-OES 和 iCE3300 AAS 测定原卤和淤泥中微量 Rb 项目。 方法 1.1 仪......
安捷伦Agilent 5900 SVDV ICP-OES 5900 ICP-OES 用于测定复杂样品，符合行业标准暂无。适用痕量元素项目。 Agilent 5900 同步垂直双向观测 (SVDV) ICP-OES 通过一系列操作、性能和分析效率方面的改善，颠覆了传统双向观测 ICP-OES 概念。专为希望高效运行样品，并使每个样品分析的成本降到最低的高样品通......
安捷伦ICP-AES5900 ICP-OES 参考多项行业标准暂无。完成复杂样品的检测。可以用在其它环境/能源行业领域中的痕量元素项目。 Agilent 5900 同步垂直双向观测 (SVDV) ICP-OES 通过一系列操作、性能和分析效率方面的改善，颠覆了传统双向观测 ICP-OES 概念。专为希望高效运行样品，并使每个样品分析的成本降到最低的高样品通量......
安捷伦Agilent 5900 SVDV ICP-OES 5900 ICP-OES 用于测定水样，符合行业标准US EPA 200.7。适用元素项目。 Agilent 5900 SVDV ICP-OES 系统是一种发射光谱仪，专为要求最为严格的高通量实验室而设计。利用该系统，您可以在更短时间内以低于其他任何 ICP-OES 仪器的样品成本获得可靠答案。 凭......
赛默飞ICP-AESICP-OES可以用在地质行业领域，用来检测用含钛基体金红 石、四氯化钛、TC4，可完成ICP-OES方法项目。符合多项行业标准SN/T 4758-2017 、YS/T 655-2016、GB/T 4698、SN/T 3910-2014标准。 这款紧凑的台式 ICP-OES 可同时分析样品中的所有痕量元素。其垂直炬管定向系统提供出色的耐......
点击查看下载Agilent ICP-OES5110安捷伦 Agilent同步双向观测 ICP-OES相关资料，进一步了解产品。 Agilent 5110 同步垂直双向观测 (SVDV) ICP-OES 具有独特的智能光谱组合 (DSC) 技术，可以实现同步的水平和垂直测量。配合使用垂直炬管与速度更快且无需气体吹扫的 VistaChip II CCD ......