afm和sem
技术参数： 1. 光源 A. IK3501R-G, 325nm HeCd 激光器 - 输出功率 : 50mW 风冷, TEM00 B. QUV266-50, 266nm 半导体激光器 - zei大平均输出功率 : 50mW - 脉冲频率 : 1-100KHz(内置可调) 0-200KHz(外部可调)......
技术参数： 技术参数 1. Humidity control From 0 to 99% 湿度控制： 0 to 99% 2. Data length 16 bits, all channels 传输数据长度： 16位，所有通道 3. Image pixel ......
真空冷冻传输系统 Leica EM VCT100Leica EM VCT100是一套无污染的冷冻样品传输系统，通过连接交换预抽室和一个传输器，将多种分析仪器联系起来实现样品制备及分析。将样品从样品制备仪器转移至分析仪器的过程中，样品一直被保存在有保护气体或真空环境中，样品也可保存在低温状态下，实现冷冻样品的传输。系统带有的交换预抽室可以与任何带有抽真空样品仓......
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学......
‍‍AFM/SEM二合一显微镜-FusionScope‍‍——AFM&SEM多功能集于一体在多数情况下，为确认不同参数之间的相关性，样品分析通常使用多种技术手段。对于AFM和SEM成像技术而言，这意味着在实际操作中需要对相同的区域进行对比分析。2022年10月，美国Quantum Des......
点击查看下载Prisma E赛默飞 SEM扫描电子显微镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......
全新发布的 AFM-in-Phenom XL 结合了扫描电子显微镜 (SEM) 和原子力显微镜 (AFM) 的优势，实现了在同一系统中对样品进行多模态（SEM 及 AFM 形貌、元素、机械、电学、磁学）关联分析。 · 设备扫描范围（开环）：100μm×100μm×20μm· 设备扫描范围（闭环）：80μm×80μm×16μm· 分辨率：0.2nm×......
AFM-SEM 同步联用技术（通用版）产品简介革命性的原子力显微镜（AFM），可实现与扫描电子显微镜（SEM）的无缝集成，为原位关联显微镜开辟新可能。凭借优化设计，LiteScope AFM 兼容赛默飞世尔、TESCAN、蔡司、日立、JEOL 等主流品牌 SEM 系统及其配件，其他品牌电镜亦可定制适配。 测量模式：• 机械性能：A......