日立 s4800
日立分析仪器LIBSVulcan可用于测定材料，适用于元素分析项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。 激光诱导击穿光谱（LIBS）和X射线荧光（XRF）手持式光谱仪均结构紧凑、易于使用、检测速度快。材料可通过扣动扳机进行鉴别，操作就是这么简单。 通常，成本是做出决策的关键因素，特别是考虑到长期管理费用时。当两种产品价格相等且使用寿命相近时......
我们的DSC（差示扫描量热仪）被广泛用于材料表征。 例如熔点，玻璃化转变，结晶。 DSC600被广泛用于包括聚合物，制药，化学，石油和天然气，食品和金属等行业的质量控制和研发。 日立的DSC具有优秀的灵敏度和基线平坦度，从而提供更精确的试验，并能评价微小的反应。我们提供一系列解决方案，从涵盖各种应用的DSC200到旨在满足前沿的......
FE-SEM获得的图像分辨率高，信息丰富，样品处理相对简单，并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构，因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生命科学、材料等领域。近年来，以Materials Integration为代表，其应用领域及用途在不断护展，短时间内获取大量数据，减轻作业负荷成为市场的一大需求。为满足这一需求，此次特推出的SU8600系列秉承了......
产品介绍简介日立超高效液相色谱仪（UHPLC）ChromasterUltra Rs专为满足药物和化学领域研发部门对高性能、高分辨率和高灵敏度的需求而设计。具备超高速分析、高分辨率和高灵敏度的特点，通过新型色谱柱和优化的流动相条件，显著提升了分析效率和精度，适用于复杂成分检测及痕量物质分析。该设备提供全面的模块化选项，支持多样化的应用需求。 &nb......
简介日立离子研磨装置IM4000 II是一款集断面加工和平面研磨功能于一体的混合仪器，适用于高分辨成像及样品表面特性分析。该设备通过混合模式提供两种研磨配置，采用新型离子枪设计提高了加工效率，与前代产品相比，横截面研磨时间大幅减少，同时其可拆卸样品台设计方便了样品设置和研磨边缘定义。日立离子研磨装置IM4000 II 具有断面加工和平面研磨功能的混合仪器！日......
简介日立高新磁控溅射器(MC1000)采用电磁管电极，能有效减轻对样品的损伤并实现均匀涂覆，适用于高分辨率扫描式电子显微镜。设备支持最大样品直径60mm，高度20mm，配备LCD触摸屏便于操作，具备记忆功能存储常用条件，并可选配处理较大样品的配件。 日立高新磁控溅射器（Hitachi Ion Sputter )MC1000采用了电磁......
简介该设备支持超大/超重样品测试，能分别搭载最大直径300mm、重量5kg的样品，拥有大视野观察功能，并具备自动化功能以提高操作性能。通过自动光路调整和各种自动化功能，样品设置完后立即可以开始观察。此外，还安装有“Intelligent Filament Technology”软件，自动监控钨灯丝的状况，确保长时间测试过程中的连续性。1) 支持超大/超重样品......
Primaide PLUS作为Primaide型号的升级版，在以下几个关键方面做了升级：1. 立式、大空间柱温箱，全新设计，精准控温，兼容多根长色谱柱和多阀改造，适合复杂样品测定及分析方法的开发。2. 荧光检测器（FLD）：精益求精，实现自我突破，日立荧光检测器高灵敏度受到了相关行业客户专家的认可，此次升级后，......
简介SU8700作为一款面向新时代的FE-SEM，继承了日立电镜一贯的高图像质量和高稳定性，并新增了自动获取数据等高通量功能。其特点包括自动调整功能以避免人为操作差异、可选配“EM Flow Creator”实现自动化数据获取、最多可同时显示和存储6个检测器信号、单次扫描像素高达40,960 x 30,720，以及优化设计以增强信号检测能力，特别适合多领域材......
检测性能优化全新升级的5410紫外检测器，噪声值≤0.4×10-5 AU，漂移值≤1.0×10-4 AU/h，在提高检测灵敏度的同时确保了基线的稳定性，适用痕量样品的检测。双波长同步检测功能可设定不同的数据采集间隔（400ms/800ms），以得到峰形更尖锐的色谱图，轻松应对食品添加剂、生物样本等复杂基质分析，提升了数据可靠性。温控系统升级全新升级的5310......