轮廓仪 联系人

激光扫描轮廓仪

参考成交价格: 暂无

轮廓仪/粗糙度仪

型号:NanoFocus μScan

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技术参数:  技术参数 Scan modules Measuring range in x,y-direction [mm] Resolution in x,y-direction [mm] Positioning range in z-direction [mm] Max. measuring speed [......

白光共轭焦轮廓仪

参考成交价格: 暂无

轮廓仪/粗糙度仪

型号:Nanofocus μSurf

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 技术参数 Measuring head CX CI Image acquistion module BM 512 Digital camera with progressive- scan technology, up to 25fps, 512 x 512 Pixel, 8bit, Firewire Fast ......

纳米表面轮廓仪

参考成交价格: 暂无

昊量光电 光学计量仪器

型号:纳米表面轮廓仪

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纳米表面轮廓仪 纳米表面轮廓仪IMOS纳米表面轮廓仪实现了精确、定量、iso兼容、非接触式表面测量和表征微和纳米尺度的表面特征,在短短几秒钟内可捕获多达200万个数据点。选择正确的光学轮廓仪系统取决于您的应用程序的要求,包括速度、精度、垂直范围、自动化和灵活性。IMOS光学表面轮廓仪在非接触式光学表面轮廓方面提供了强大......

产品简介SJ5900光学型轮廓仪是一款集成表面粗糙度和轮廓测量的高精度光学曲面测量仪。采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高稳定性气浮隔震系统、高性能计算机控制系统技术,实现对球面及非球面光学元器件表面粗糙度和轮廓的高精度测量和分析。专业为非球面镜片的大曲面测试,通过高稳定性的气浮隔震系统保证仪器不受外界振动影......

 中图仪器SJ5700DUAL双向扫描螺纹轮廓仪是中图仪器自主研发的高精度螺纹轮廓扫描综合测量仪器,产品具有精度高、操作方便易用、功能强大、智能防护、智能接触等优点,一次测量即可自动记录和显示任意位置螺纹数据及各种螺纹参数,自动生成被测螺纹的曲线图、相关参数数据和图表,仪器配备各种专业的现场工件工装夹具,非常适合各种生产线螺纹工件、丝杠、轴类、筒类......

SuperViewW系列光学表面形貌轮廓仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。SuperViewW具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量......

高精度光学轮廓仪

参考成交价格: 96万元[人民币]

中图仪器 轮廓仪/粗糙度仪

型号:SuperViewW1

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SuperViewW高精度光学轮廓仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。SuperViewW具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产品......

SuperViewW光学显微形貌轮廓仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。SuperViewW具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产......

光学表面轮廓仪系统

参考成交价格: 96万元[人民币]

中图仪器 其它光学测量仪

型号:SuperViewW系列

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中图仪器SuperViewW光学表面轮廓仪系统一体化高精度测量粗糙度与轮廓度。它以0.1nm级分辨率、8μm/s扫描速度、300+种标准参数,可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。一、行业应用1.半导体制造:适配硅晶片研磨减薄后的粗糙度检测、光刻槽道轮廓测量,助力头部企业工艺良率提升......

3维光学轮廓仪

参考成交价格: 暂无

纳腾 轮廓仪/粗糙度仪

型号:3维光学轮廓仪

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概要3维形象测量仪利用光的干涉,具备0.1nm高度分辨力,可以纳米单位轻松、 快速、准确地测量1nm~10mm的表面形象。相比接触式方式,不会对测量物造成 丝毫损害,且相比共焦方式,无关透镜倍率,具备相同的高度分辨率, 可准确测量,相比AFM方式,可快速测量更宽的领域。特点测量以0.1nm单位的高分辨率 · 可以多种FOV大小测量 · 无论倍数为多少,都具备......

厂商新闻
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