中科院病毒所 200kv透射电镜
日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差，亮度低，无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题，并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时，能量分辨率提高到0.3eV，极大......
透射电镜使用电子穿透样品成像，实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用，如果使用全部的透射电子成像，必然在细节上出现假象、失真甚至某些信息被掩盖。JEM-2200FS采用欧米伽能量过滤器，让透过电子穿过欧米伽形状的电磁透镜系统，具有不同电子的能量将被展开，我们可以选择零损失电子成像，还可以专门突出某种原子成像，非常方便......
仪器简介：对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃级尺寸研究各种普通材料和先进材料的非常有效的技术。它能够产生很多的信号, 这些信号携带了不同类型的有用信息。Tecnai G220经过特殊设计可以快速有效地采集和处理这些信号。将高分辨图像、明场......
透射电镜使用电子穿透样品成像，实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用，如果使用全部的透射电子成像，必然在细节上出现假象、失真甚至某些信息被掩盖。JEM-2200FS采用欧米伽能量过滤器，让透过电子穿过欧米伽形状的电磁透镜系统，具有不同电子的能量将被展开，我们可以选择零损失电子成像，还可以专门突出某种原子成像，非常方便......
产品规格物镜种类*1极高分辨率（UHR）型高分辨率（HR）型样品高倾斜（HT）型样品冷却（CR）型高衬度（HC）型分辨率 点分辨率晶格分辨率0.19 nm0.1 nm0.23 nm0.1 nm0.25 nm0.1 nm0.27 nm0.14 nm0.31 nm0.14 nm能量分辨率0.8 eV（零损失 FWHM）加速电压160 kV，200 kV*2电子枪......
日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差，亮度低，无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题，并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时，能量分辨率提高到0.3eV，极大......
在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美国的Brookheaven......
JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器，是一款原子分辨分析型透射电镜，拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率（78pm）。标配照明系统球差校正器，且zei大限度地升了装置的机械稳定性和电气稳定性，实现了世界领先的STEM-HAADF像分辨率 ......
产品特点：JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器，是一款原子分辨分析型透射电镜，拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率（78pm）。STEM-HAADF像的保证分辨率（78pm*1 ）为世界之领先性能标配照明系统球差校正器，且zei大限度地提升了装置的机械稳定性和电气稳定性，实现了世界领先的STEM-HAADF像分辨率 （78pm*1、......
产品规格：分辨率扫描透射暗场像82pm（加速电压200kV、肖特基场发射电子枪）78pm（加速电压200kV、冷场发射电子枪）透射像（点分辨率）190pm（加速电压200kV）110pm（加速电压200kV、安装TEM球差校正器）倍率扫描透射像X200～X150,000,000透射像X50～X2,000,000电子枪电子枪肖特基场发射电子枪 冷场发射电子枪（......