单晶铜 实验材料
仪器简介：安捷伦公司新一代X射线单晶衍射仪Xcalibur与Gemini双光源系统拥有一样的测角仪平台， 具有最佳的稳定性和升级性能，在全球拥有众多的用户。Xcalibur E系统标准配备Mo或Cu光源，适合进行常规小分子晶体结构分析和专业晶体学研究，并可根据需要将系统升级为双光源系统，或配备更大的检测器以拓展研究需求。Xcalibur E系统提供增强型......
技术参数：1. Atlas CCD 检测器 2. 增强型Mo光源和超强型Cu光源 3. 四圆 kappa 测角仪主要特点：1. 检测器：采用级别最高、缺陷率最低的CCD芯片，是高灵敏度和大有效探测面积的最佳组合，适合于收集蛋白质和小分子晶体的衍射数据。2. 光源：（1）计算机控制切换Mo和Cu光源；（2）增强型X射线源产生均一和稳定的Mo X射线。（3）......
安捷伦Agilent 全能型分光光度计 (UMS)Cary 7000可以用在高分子材料行业领域，用来检测单晶光学材料，可完成折射率项目。符合多项行业标准。 高级材料的生产需要快速、准确和最少的劳动密集型材料参数测定。折射率是光学材料特别是晶体材料应用所需的主要参数之一。本文主要利用分光光度计搭配可多角度自动控制的全能附件，采用两种分光光度法，对不同类型的材......
安捷伦紫外Cary 5000用于测定单晶光学材料，符合行业标准。适用折射率项目。 高级材料的生产需要快速、准确和最少的劳动密集型材料参数测定。折射率是光学材料特别是晶体材料应用所需的主要参数之一。本文主要利用分光光度计搭配可多角度自动控制的全能附件，采用两种分光光度法，对不同类型的材料，特别是单晶光学材料的折射率进行了研究。两种方法分别为：布鲁斯特定律方法以......
中文名：LSAT英文名：LSAT纯度：单晶基板, , ≥99.9% trace metals basis货号：L476258产品介绍：外形立方体（边长 = 3.868Å）查看阿拉丁官网此产品相关对应页面：https://www.aladdin-e.com/zh_cn/L476258.html产品目录：材料科学 > 电子材料 ......
中文名：硫化钼英文名：Molybdenum sulfide纯度：SiO₂/Si上的单晶单层薄片货号：M475813产品介绍：DescriptionOwing to the thickness dependent physical and chemical properties, the two dimensional layered inorganic na......
中文名：硫化钼英文名：Molybdenum sulfide纯度：蓝宝石上的单晶单层薄片货号：M477640产品介绍：DescriptionOwing to the thickness dependent physical and chemical properties, the two dimensional layered inorganic nanoma......
中文名：硫化钨英文名：Tungsten sulfide纯度：SiO₂/Si上的单晶单层薄片货号：T475816产品介绍：DescriptionOwing to the thickness dependent physical and chemical properties, the two dimensional layered inorganic nano......
中文名：硫化钨英文名：Tungsten sulfide纯度：蓝宝石上的单晶单层薄片货号：T477642产品介绍：DescriptionOwing to the thickness dependent physical and chemical properties, the two dimensional layered inorganic nanomate......