sem 扫描电镜 使用行业

SEM高温疲劳试验机是带扫描电子显微镜的疲劳试验机。用于在疲劳试验过程中动态时实观测样品表面的微观破坏。可进行拉-拉、拉-压、三点弯曲疲劳试验及800℃以下的高温试验。  特 点:· 电子显微镜SEM与试验机采用一体化结构,具有高防振效果。· 可以在利用SEM观察的同时,进行裂纹扩展观察试验。· 可以在常温~800℃温度范围内,重复向样品......

SEM5000是一款分辨率高、功能丰富的场发射扫描电子显微镜。先进的镜筒设计,高压隧道技术(SuperTunnel)、低像差无漏磁物镜设计,实现了低电压高分辨率成像,同时磁性样品可适用。光学导航、完善的自动功能、精心设计的人机交互,优化的操作和使用流程,无论经验是否丰富,都可以快速上手,完成高分辨率拍摄任务。印刷电路板(PCB)简介印制电路板的英文名称为:T......

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牛津仪器扫描电镜AZtecFeature可以用在纳米材料行业领域,用来检测Power Semiconductors,可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 失效分析 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的AZtecFeature是一款速度更快、使用更方便的颗粒物......

赛默飞扫描电镜Apreo适用于解决方案项目,参考多项行业标准。可以检测锂电池等样品。可应用于电池/锂电池行业领域。 Thermo Scientific 测厚系统包括 Beta 传感器、全光谱红外传感器等,种类齐全,可根据产品生产工艺提供最佳的测量控制方案。21PlusHD Beta 测厚系统主要适用于电极涂布,锂电隔膜等测量。赛默飞测厚仪具备了业内最高的条 ......

点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料,进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜(SEM)可以提供样品表面微观结构的详细(纳米级)信息,因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......

点击查看下载(原FEI) 赛默飞Verios XHR SEM 金属行业微观分析解决方案相关资料,进一步了解产品。 Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度,满足材料精密测量所需,同时又不......

QuattroSEM扫描电子显微镜拥有独特的环境真空功能,是一款具有极高灵活性和多功能高分辨率的扫描电镜。它可以结合成像和分析全面性能与环境模式(ESEM),使得样品研究得以在自然状态下进行。Quattro的场发射扫描电子显微镜电子枪(FEG)保证了优异的分辨率,并且通过不同的探测器选项,可以调节不同的衬度信息,包括定向背散射、STEM和阴极荧光信息。从多个......

PrismaESEM是一种极具灵活性的扫描电子显微镜(SEM),可以在各种条件下展现出出色的全能性能。它通过低真空和环境扫描的SEM(ESEM)模式,完全满足了分析不导电、含气体、水分或其他非常规测试样品的需求。PrismaESEM具有高度灵活性、易用性和广泛适用性,是多用户实验室的理想选择。产品参数:发射源:钨灯丝(高性能电子光学镜筒,双阳极热发射电子枪)......