mca分析
仪器简介 WDX-400型多道X射线荧光光谱仪可配置10个固定分光道，同时分析10种元素。根据用户的应用要求可配置为从Na到U 任意十种元素。标准配置为Na、Mg、Al、Si、S、Cl、K、Ca、Fe、P或Ti(可选)十种元素，是大中型企业质量控制的选择。 性能特点 粉体样品或块样品快速，非破损分析。 可快速分析粉末......
仪器简介： 性能特点： 粉体样品或块样品快速，非破损分析 可快速分析粉末压片，玻璃熔片和块状物料 采用多路数字MCA实时检测，大大提高元素检测效率谱峰，不仅便于仪器调试和故障诊断，并可进一步提高仪器的分析精度和稳定性技术参数： 技术规格： 高压电源：400W（50KV8mA） X射线管：Varian公司生产的400W薄铍窗端窗X射......
根据分析晶体的聚焦几何条件不同,分为非聚焦反射平晶式,半聚焦反射弯晶式，全聚焦反射弯晶式，半聚焦透射弯晶式等。其原理是:试样受X射线照射后，元素的原子内壳层电子被激发，并产生壳层电子跃迁而发射出该元素的特征X射线，通过探测器测量元素特征X射线的波长（能量）的强度与浓度的比例关系，便可进行定量分析。仪器简介： 性能特点： 粉体样品或块样品快速，非破损分......
波长色散型X射线荧光光谱仪是一种用于化学、食品科学技术领域的分析仪器，于2008年12月23日启用。仪器简介： 性能特点： 粉体样品或块样品快速，非破损分析 可快速分析粉末压片，玻璃熔片和块状物料 采用多路数字MCA实时检测，大大提高元素检测效率谱峰，不仅便于仪器调试和故障诊断，并可进一步提高仪器的分析精度和稳定性技术参数： 技术规格： ......
波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线），从而进行物质成分分析的仪器。仪器简介： 性能特点： 粉体样品或块样品快速，非破损分析 可快速分析粉末压片，玻璃熔片和块状物料 采用多路数字MCA实时检测，大大提高元素检测效率谱峰，不仅便于仪器调试和故障诊断，并可进一步提高仪器的分析精度和稳定......
X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。色散型又分为波长色散型和能量色散型。波长色散型XRF光谱仪由X射线管激发源，分光系统，探测器系统，真空系统和气流系统等部分组成。仪器简介： 性能特点： 粉体样品或块样品快速，非破损分析 可快速分析粉末压片，玻璃熔片和块状物料 采用多路数字MCA实时检测，大大提高元素检测效率谱峰，不仅便......
仪器简介：MCA-3系列多道分析器 MCA一般来说包含模－数转换（ADC）、存储器（Memory）和显示器（Display）三个部分。一般来说常见的都将三者结合起来，比如Ortec的PCI卡，以及FAST ComTec的MCA-3系列都是如此。 MCA3系列集合了许多同价位产品所不具有的功能。该产品具有512k通道（每个通道32bit）......
最新产品快讯MCA8000D将逐步替代现有的MCA8000A。 MCA-8000D是一个全功能的数字多道分析器，可应用于多种探测器系统中。采用简单易用的“Pocket MCA”设计，可直接放在衬衣口袋内。产品特性：兼容传统的模拟脉冲成型（analog pulse shaping）技术；数字脉冲高度测量中应用高速ADC（10......
ORTEC核电子学插件、4001A/4002DNIM机箱/电源,CF8000，多道分析仪EASY-MCA-8K仪器主要包括：前置放大器、放大器、时间校准、单道脉冲分析器、计数/计时器和率表、延迟发生器、逻辑模块和线性门、快速时间鉴别器、CAMAC ADC、高压偏置/NIM电源及机箱、NIM MCA/MCB、非NIM MCA/MCB、MCS/多倍数停止时间谱、......
ORTEC核电子学插件、4001A/4002DNIM机箱/电源,CF8000，EASY-MCA-2K仪器主要包括：前置放大器、放大器、时间校准、单道脉冲分析器、计数/计时器和率表、延迟发生器、逻辑模块和线性门、快速时间鉴别器、CAMAC ADC、高压偏置/NIM电源及机箱、NIM MCA/MCB、非NIM MCA/MCB、MCS/多倍数停止时间谱、脉冲发生器......