中国科学院固体物理研究 场发射透射电镜
透射电镜使用电子穿透样品成像，实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用，如果使用全部的透射电子成像，必然在细节上出现假象、失真甚至某些信息被掩盖。JEM-2200FS采用欧米伽能量过滤器，让透过电子穿过欧米伽形状的电磁透镜系统，具有不同电子的能量将被展开，我们可以选择零损失电子成像，还可以专门突出某种原子成像，非常方便......
“The Grand EPMA” 诞生搭载最尖端场发射电子光学系统将岛津EPMA分析性能发挥到极致。从SEM观察条件到1μA量级，在各种束流条件下都拥有无与伦比卓越空间分辨率的尖端场发射电子光学系统。结合岛津传统的高性能X射线谱仪，将分析性能发挥至极致。 当之无愧的 “The Grand EPMA” ，最高水准的EPMA诞生！ ......
新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm；放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调；并且景深大，视野大，成像立体效果好。此外，扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合，可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。TESCAN CLARA 是一款适用性非常广泛的扫描电子显微镜，能够满足各个科研和技术领域对不同材料进行高质量成像和表征的需求。TESCAN CLAR......
扫描电子显微镜（scanning electron microscope，SEM）是一种用于高分辨率微区形貌分析的大型精密仪器 。具有景深大、分辨率高，成像直观、立体感强、放大倍数范围宽以及待测样品可在三维空间内进行旋转和倾斜等特点。TESCAN CLARA 是一款适用性非常广泛的扫描电子显微镜，能够满足各个科研和技术领域对不同材料进行高质量成像和......
1932年，Knoll 提出了SEM可成像放大的概念，并在1935年制成了极其原始的模型。1938年，德国的阿登纳制成了第一台采用缩小透镜用于透射样品的SEM。由于不能获得高分辨率的样品表面电子像，SEM一直得不到发展，只能在电子探针X射线微分析仪中作为一种辅助的成像装置。此后，在许多科学家的努力下，解决了SEM 从理论到仪器结构等方面的一系列问题。主要特点......
最早期作为商品出现的是1965年英国剑桥仪器公司生产的第一台SEM，它用二次电子成像，分辨率达25 nm，使SEM进入了实用阶段。1968年在美国芝加哥大学，Knoll 成功研制了场发射电子枪，并将它应用于SEM，可获得较高分辨率的透射电子像。1970年他发表了用扫描透射电镜拍摄的铀和钍中的铀原子和钍原子像，这使SEM又进展到一个新的领域。2021年，全数字......
赛默飞200 kV场发射透射电镜Talos F200i TEM 高质量、高分辨率的 (S)TEM 成像和灵活的 EDS 可使用高分辨率、高亮度（冷）场发射枪 可提供双 EDS，以获得较高的分析通量Talos F200i TEM用于高通量、高分辨率化学表征和动态观察的 TEM 和 STEM 分析。Talos F200i 透射电子显......
扫描电子显微镜Quattro ESEM环境扫描电镜环境扫描电镜(ESEM)，用于研究包括含水样品在内的各种样品。 联系我们主要特点性能数据相关资源应用技术技术文件联系我们Thermo Scientific Quattro ESEM将SEM成像与SEM分析的综合性能与独特的环境模式 (ESEM) 相结合，可在自然状态下研究样品。Quattro ESE......
集成了 化学分析和结构表征的高性能成像 新的 Thermo Scientific Apreo ChemiSEM 系统通过简化成像过程支持您的材料科学研究，可供专家用户和新手使用。凭借智能帧集成 (SFI) 和新开发的自动聚焦和自动散射等创新功能，它可以助您轻松获得清晰、高分辨率的图像以及元素分析 (EDS) 和衍射 (EBSD) 的结果。 ......
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