NTEGRA Spectra系统简介: NTEGRA Spectra - AFM / CONFOCAL RAMAN & FLUORESCENCE / SNOM / TERS 它将原子力显微镜、扫描近场光学显微镜,激光共聚焦显微镜、荧光光谱和拉曼光谱等各种分析手段完美地结合到一起。借助于针尖增强拉曼散射效应(TERS),其拉曼散......
技术参数: 大范围高精度扫描探针显微镜 安捷伦5500LSSpecifications Stage - Standard vacuum chuck size: 150 mm - Sample thickness: up to 35 mm - Examination area: 150 m......
大范围高精度扫描探针显微镜 安捷伦5500LS Specifications Stage - Standard vacuum chuck size: 150 mm - Sample thickness: up to 35 mm - Examinatio......
作为一款全自动高性能化系统,它可同时为各种先进材料研究提供超快速扫描、高分辨率测试以及各种模式的纳米测试。产品特点全自动高速高分辨率大范围扫描器优异的闭环控制所有SPM 模式适用低漂移对环境振动不敏感1300 nm 原子力反馈激光可与拉曼耦联适合不透明样品SmartSPM先进原子力显微镜SmartSPM扫描探针显微镜是第一个100%自动化的系统,它为所有AF......
作为一款研究级原子力系统,它能完美地与倒置光路结合,并且同时拥有自动化、高分辨率测试以及耦联灵活性等特点。产品特点全自动高分辨率大范围扫描器优异的闭环控制所有SPM 模式适用1300 nm 原子力反馈激光可与拉曼耦联开放式系统能提供多光学通道适合透明样品、生物样品......
太赫兹近场光学显微镜-THz-NeaSNOM--30nm光学信号空间分辨率太赫兹(THz)光源波长较大,一般在300微米左右。由于衍射限的存在,THz远场测量系统的光学空间分辨率一般被限制在150微米左右。该THz光远场测量结果的准确度经常无法满足对材料科学研究,尤其是需要纳米分辨率的微细尺度材料分布研究(例如半导体芯片中各个组成:源,漏,栅)的实验。THz......
自动观察自动完成光路调整、扫描参数设定、图像处理 使用标准样品和标准探针时操作用时5分钟**自动观察模式,扫描范围1um× 1um ,256×256点阵。操作时长依赖于操作者。 传统的原子力显微镜需要人工调整光路、设定扫描参数、进行图像处理。但是SPM-Nanoa可以帮助用户毫无压力地完成这些操作性能优异从光学显微......
NeaspecAFM及扫描探针neaSNOM用于测定LaAlO3/SrTiO3,符合行业标准Alexey B. Kuzmenko, High sensitivity variable-temperature infrared nanoscopy of conducting oxide interfaces, Nat. Commun., 2019,10,277......
▶仪 器 介 绍产品源于中山大学光电材料与技术国家重点实验室, 相关技术“达到国际先进产品的水平”,多项研究成果 突破国际封锁和技术壁垒。产品技术团队与广东省集成 电路工程技术研究中心、广东省绿色电力变换及智能控 制工程技术研究中心、中山大学物理学院和中......