场发射探针
JXA-iHP200F场发射电子探针显微分析仪2003年日本电子推出了世界首台商业化场发射电子探针（FE-EPMA），此后被广泛地应用于金属、材料、地质等各个领域，并获得了极高的赞誉。zei新研发的第三代场发射电子探针JXA-8530F Plus，电子光学系统有了很大的改进，新的软件能提供更高的通量，并保持着极高的稳定性，能实现更广泛的EPMA应用。2003......
仪器简介：对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃级尺寸研究各种普通材料和先进材料的非常有效的技术。它能够产生很多的信号, 这些信号携带了不同类型的有用信息。Tecnai G220经过特殊设计可以快速有效地采集和处理这些信号。将高分辨图像、明场......
“The Grand EPMA” 诞生搭载最尖端场发射电子光学系统将岛津EPMA分析性能发挥到极致。从SEM观察条件到1μA量级，在各种束流条件下都拥有无与伦比卓越空间分辨率的尖端场发射电子光学系统。结合岛津传统的高性能X射线谱仪，将分析性能发挥至极致。 当之无愧的 “The Grand EPMA” ，最高水准的EPMA诞生！ ......
JXA-iHP200F场发射电子探针显微分析仪2003年日本电子推出了世界首台商业化场发射电子探针（FE-EPMA），此后被广泛地应用于金属、材料、地质等各个领域，并获得了极高的赞誉。zei新研发的第三代场发射电子探针JXA-8530F Plus，电子光学系统有了很大的改进，新的软件能提供更高的通量，并保持着极高的稳定性，能实现更广泛的EPMA应用。2003......
点击查看下载日本电子电子探针EPMA 场发射电子探针显微分析仪 全新电子光学仪器进展相关资料，进一步了解产品。 JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者，近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好，稳定性强且智能化程度高，操作得心应手，是材料表征和分析的绝佳选择。 JXA-iHP200F场发射电子探针显微分析仪2003年日本电子推出了世界首台商业化场发射电子探......
点击查看下载 场发射电子探针显微分析仪JXA-iHP200F电子探针EPMA 样本相关资料，进一步了解产品。 JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者，近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好，稳定性强且智能化程度高，操作得心应手，是材料表征和分析的绝佳选择。 新开发了多种基于Windows操作系统的软件，其中包括：能使痕量元素分析更加简便的“痕量元素分析程......
扫描电子显微镜Quattro ESEM环境扫描电镜环境扫描电镜(ESEM)，用于研究包括含水样品在内的各种样品。 联系我们主要特点性能数据相关资源应用技术技术文件联系我们Thermo Scientific Quattro ESEM将SEM成像与SEM分析的综合性能与独特的环境模式 (ESEM) 相结合，可在自然状态下研究样品。Quattro ESE......
扫描电镜Apreo 2 SEM场发射扫描电镜一款具备优异性能的多功能型成像及分析的扫描电镜联系我们主要特点性能数据相关资源应用技术技术文件联系我们材料表征先进的材料表征实验室需要使用最新技术，且将分析仪器（包括 SEM扫描电镜）的性能发挥到极致。这些实验室中绝大多数都是多用户使用，且不同用户的经验水平不尽相同，同时，扫描电镜的上机时间非常宝贵，因此......
赛默飞集成能谱场发射扫描电镜Apreo ChemiSEM引言研究先进材料需要对样品的微观形貌、结构和化学成分有深刻的理解。无论您是在研究下一代创新型材料，还是专注于产品开发和制造，了解材料的微观特性都至关重要。Thermo Scientific™ Apreo™ ChemiSEM™系统彻底革新并简化了这些分析。通过将高分辨率成像、元素分析和结构分析的硬件和软件......
集成了 化学分析和结构表征的高性能成像 新的 Thermo Scientific Apreo ChemiSEM 系统通过简化成像过程支持您的材料科学研究，可供专家用户和新手使用。凭借智能帧集成 (SFI) 和新开发的自动聚焦和自动散射等创新功能，它可以助您轻松获得清晰、高分辨率的图像以及元素分析 (EDS) 和衍射 (EBSD) 的结果。 ......