x荧光合金分析仪
从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这一空位，也就是所谓跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发......
天瑞仪器公司是全球专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX3600H,融汇全球领先的合金分析技术，配备合金测试效果zei佳的智能真空系统，利用低能光管配合真空测试，可以有效的降低干扰，提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、 Si、P等轻元素的检测效果。 EDX3600H合金光谱仪是天瑞仪......
完全满足于黄铜成分分析以及其他金属样品的成分分析 应用新一代的高压电源和X光管，提供了产品的可靠性 利用新X光管提高仪器的测试效率，并优化产品性能和提高安全防护等级 不添加任何硬件设施既可升级分析功能，方便灵活的随未来发展的分析需要增加分析元素及合金种类 采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降......
能量色散型荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近，X-射线的利用率很高，不需要光学聚集，在累积整个光谱时，对样品位置变化不象波长色散型荧光光谱仪那样敏感，对样品形状也无特殊要求。 天瑞仪器公司是全球专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX3600H,融汇全球领先的合金分析技术，配备合金测试效果zei佳......
而能量色散型荧光光仪(ED-XRF) 是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X 射线荧光按光子能量分离X色线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量，由于原理的不同，故仪器结构也不同。 完全满足于黄铜成分分析以及其他金属样品的成分分析 应用新一代的高压电源和X光管，提供了产品的可靠性 利用新X光管提高仪器的测试效率......
X 射线荧光光谱法，是用X 射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线(X-荧光)。波长色散型荧光光仪 (WD-XRF) 是用分光品体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征 X 射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。 完全满足于黄铜成分分析以及其他金属样品的成分分析 应用新一代的高压电源和X光管，提供了产品的可靠性 利用......
仪器结构简单，省略了晶体的精密运动装置，也无需精度调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X-射线管功率低，一般在100W以下，不需要昂贵的高压发生器和冷却系统，空气冷却即可，节省电力。 天瑞仪器公司是全球专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX3600H,融汇全球领先的合金分析技术，配备合金......
原理区别 X-射线荧光光谱法，是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线(X-荧光)。波长色散型荧光光仪(WD-XRF)是分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的含量。而能量色散型X射线荧光光仪(WD-XRF)是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量分离X-射线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素......
结构区别 波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF)，一般由光源(X-射线管)、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X-射线管的功率要大，一般为2～3千瓦。但X-射线管的效率极低，只有1%的电功率转化为......
产品说明、技术参数及配置完全满足于黄铜成分分析以及其他金属样品的成分分析应用新一代的高压电源和X光管，提供了产品的可靠性利用新X光管提高仪器的测试效率，并优化产品性能和提高安全防护等级不添加任何硬件设施既可升级分析功能，方便灵活的随未来发展的分析需要增加分析元素及合金种类采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低检测时间短，可以大大提高......