华中科技大学 椭偏仪

堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成硫系玻璃的检测。可以用在其他化工行业领域中的厚度,光学常数项目。   技术参数:       * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm)        *&......

堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于厚度,光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测TiO2薄膜和多层减反膜等样品。可应用于其他化工行业领域。   技术参数:       * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm)        * ......

堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定溶液,适用于疏水改性多聚糖在气水界面的聚集项目。并且参考多项行业标准0。可应用于其他生命科学行业领域。   技术参数:       * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm)     &nb......

堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可以用在微生物行业领域,用来检测生物素,可完成生物膜厚度,界面反应项目。符合多项行业标准0。   技术参数:       * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm)        * 微光斑可选50µm-......

堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成介孔硅复合材料的检测。可以用在其他化工行业领域中的厚度,光学常数,各向异性项目。  仪器简介:  椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等,可测厚度范围为几埃......

堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可以用在其他化工行业领域,用来检测硫系玻璃,可完成厚度,光学常数项目。符合多项行业标准0。   技术参数:       * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm)        *......

堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定TiO2薄膜和多层减反膜,符合行业标准0。适用厚度,光学常数项目。   技术参数:       * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm)        * 微光......

堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定玻璃和预蒸镀基底,适用于光学常数项目。并且参考多项行业标准0。可应用于其他化工行业领域。  仪器简介:  椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学......

堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测ZnO薄膜等样品。可应用于涂料行业领域。   技术参数:       * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm)        * 微光斑可选50µm-10......

堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定TiO2薄膜和多层减反膜,符合行业标准0。适用厚度,光学常数项目。   技术参数:       * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm)        * 微光......