fei电子显微镜
Apreo功能最为丰富的高性能 SEMApreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术，可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。Apreo 是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台，而不会降低磁性样品性能。传统的高分辨率 SEM 透镜技术分为两类：磁浸没或静电。FEI 首次将两种技术结合到一个仪器中。这样做所产生的成效远远超过任一种镜筒的个体性能。两种技术均......
Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM是首台支持一体化ColorSEM技术进行直观元素分析的钨灯丝扫描电子显微镜。Prisma 配置环境真空模式，并可灵活配置，多种配件选项能够满足各种需求。学术和工业研究实验室需要利用现代化SEM从最广泛的样品中获得大量数据，并获得出色的图像质量。同时，由于多数实验室均为多人操作或管理设备，SEM要......
Titan Krios™ G2透射电子显微镜（TEM）专门用于蛋白质和细胞的成像。采用革命性的冷冻技术，具有很高的稳定性，可用于各种半自动化应用，包括：单颗粒分析、双轴细胞电子断层成像、冷冻电子显微镜，二维电子晶体学和亚细胞器官或细胞在含水状态下的冷冻电子显微镜观察。主要优点用于高分辨的双轴冷冻电子断层成像、单颗粒分析和电子晶体学研究的专用平台自动装载多......
Talos先进科技集于一身 Talos™ 是新一代 TEM 产品，致力于让用户迅速访问二维和三维数据，从而专注于研究发现。Talos 的配置适合开展材料研究和生命科学研究，是一款融合了众多创新技术的多功能系统，能够在未来数年里满足您的研究需求。Talos 的材料科学应用Talos 可以在多个维度开展快速、精确、量化的材料表征分析，而且配备了全新......
无损三维电气故障定位随着“超越摩尔定律”技术的普及，封装和组装相关缺陷变得越来越难以识别。互连更加精细、更加复杂；芯片和封装被堆叠并平铺为复杂结构。焊点间距更小，而基板则采用更高的图案密度和嵌入式组件。缺陷在不断增加，缺陷检测则变得更加困难。通过使用具有最高灵敏度的高分辨率锁相热成像 (LIT)，Thermo Scientific™ ELITE™ 系统为各种......
Apreo功能最为丰富的高性能 SEMApreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术，可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。Apreo 是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台，而不会降低磁性样品性能。传统的高分辨率 SEM 透镜技术分为两类：磁浸没或静电。FEI 首次将两种技术结合到一个仪器中。这样做所产生的成效远远超过任一种镜筒的个体性能。两种技术均......
行业领先的分子和细胞三维成像功能和通用性核心优势:支持范围广泛的用户: 凭借完全数字化的界面、领先的人体工程学设计以及遥控特征，Talos F200C TEM 使较广范围的用户都能够拥有功能强大的生物及生物材料样品三维表征能力。更快地获得结果。广泛的自动化联合完全集成的 1,600 CMOS 探头降低了必需的步骤数。更好地洞察: 在 20-200kV 能级的......
面向未来的可靠性能The Talos L120C TEM 的平台式设计具备了模块多功能化，最高的稳定性及操作的便捷性，从而提供可靠的最佳成像性能。核心优势：稳定性更高。 牢固的系统机壳、恒定功率物镜和远程操作可实现一致使用自动化。多种自动功能（自动电子枪、自动对齐）可提高结果的可重复性和再现性。高质量成像。 4k×4K Ceta CMOS 相机提供大视场，能......
重新构想的大批量自动化 S/TEM 成像和测量技术成像和计量技术快速、准确的数据精准的数据。Metrios DX 是一款彻底重新设计的 80-200 kV 扫描 / 透射电子显微镜，能够以前所未有的吞吐量提供基于 TEM 和 S/TEM 的、可重复的成像、分析和可测量计量结果。Thermo Scientific™ Metrios™ DX TEM 将成熟的技术......
ELITE 系统锁相红外热成像系统，其增强锁相热发射功能用于定位半导体器件中的缺陷。先进的封装应用、复杂的互连方案和更高性能的功率器件的快速增长给故障定位和分析带来了前所未有的挑战。有缺陷或性能不佳的半导体器件通常表现出局部功率损耗的异常分布，导致局部温度升高。Thermo Scientific ELITE 系统利用锁相红外热成像 (LIT) 进行半导体器件......