参考成交价格: 暂无
赛默飞 在线测厚仪
型号:RM300/310/315
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仪器简介:不论是在国外还是国内,赛默飞世尔(Thermofisher)公司的测厚仪市场占有率始终遥遥领先。RM310系列镀层重量测厚仪凭借其出色的设计,先进的射线荧光技术,精确的测量,极高的稳定可靠性,在市场上,特别是高档次的镀锌(锡)线上,其占有量遥遥领先。技术参数:安装:热镀锌线“热”端涂层重量测厚仪能够对钢带的金属涂层(涂层成分:锌,锌/镍,锌/铝,铝......
型号:RM210AF/AS
铝箔和铝冷轧测厚仪......
型号:RM215HM
仪器简介:瑞美RM 215HM系列测厚系统可为金属板带生产提供精确,高速的非接触式厚度测量。它广泛应用于各类轧机板带生产线,它采用模块化设计,配置灵活,维护简便,经济且性能指标优异。 瑞美RM215HM系列X射线测厚仪能在线检测热轧板带或中厚板/宽厚板的厚度,并实时反馈测量值和偏差值,用户能够根据RM 215HM测厚系统提供的,对测量结果的绝对值和......
型号:M1 & Epos Package
仪器简介:我们的工程师证明了,多年来由我公司提供的许多型号的测厚仪产品的寿命可由我们的升级包来延长。这些以前我们生产的测厚仪品牌是Boyle、Daystrom、DMC、Eberline,FAG,Loral、Nucléomètre、Radiometrie、THI和Weston。 这一结果来自于对上述产品进行了zei新的处理器模块和数字接口和模拟接口模块的电器升......
参考成交价格: 0元[人民币]
量拓科技 椭偏仪
型号:EX2
EX2自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法(或称“零椭偏”)椭偏测量原理,针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。 EX2仪器适用于纳米薄膜的厚度测量,以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量。 EX2仪器还可用于同时测量块状材料(如,金属、半导体、介质)的折射率n和消光系数k......
型号:EX1
EX1手动椭圆偏振测厚仪是基于消光法(或称“零椭偏”)椭偏测量原理,针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款手动教学仪器。EX1 仪器适用于纳米薄膜的厚度测量、以及纳米薄膜的厚度和折射率测量。EX1仪器还可用于测量块状材料(如,金属、半导体、介质)的折射率n和消光系数k。特点消光法椭偏测量原理 仪器采用消光法椭偏测量原理,易于操作者......
椭偏仪
型号:TPY-2型
仪器简介:产品特点: 仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器,功率稳定波长精度高。 仪器采用USB接口与电脑连接,配套软件功能齐全,具有多样数据采集及处理方式,适用于不同用户的需要。技术参数:规格与主要技术指标: 测量范围:1nm-4000nm 折射率范围:1-10 测量......
型号:EX3
EX3自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法(或称“零椭偏”)测量原理,针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。与EM22仪器相比,该仪器采用半导体激光器作为光源,稳定性好,体积更小。 EX3仪器适用于纳米薄膜的厚度测量,以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量。 EX3仪器还可......
型号:TPY-1 型
仪器简介:在近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此,更加精确和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数,如:布儒斯特角法测介质膜的折射率,干涉法测膜厚,其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度高、精度高、非破坏性测量等优点,因而,......
港东 涂镀层及薄膜测厚仪
型号:SGC-2
仪器介绍: 椭圆偏振法测量的原理很早就已提出,相应的测试方法和设备也不断地被改进和创新,使得椭圆偏振法成为重要的测试手段,并广泛地应用在光学、材料、生物、医学等各个领域。其中测量薄膜材料的厚度、折射率和消光系数是椭圆偏振法zei基本、zei重要的应用之一 。仪器特点: ●仪器采用消光式椭圆偏振方式测量&......