fei 飞钠 扫描电镜
三维成像场发射扫描电镜VolumeScope 2 SEM各向分辨率相同的大体积3D数据高真空与低真空模式下均能获取良好的衬度和高空间分辨率在常规SEM模式和连续切片成像之间轻松切换适用于对样品进行大体积连续切片以及多能量反卷积三维重构的SEM扫描电镜。Volumescope 2 3D扫描电镜适用于大体积连续切片成像Thermo Scientific Volu......
无损三维电气故障定位随着“超越摩尔定律”技术的普及，封装和组装相关缺陷变得越来越难以识别。互连更加精细、更加复杂；芯片和封装被堆叠并平铺为复杂结构。焊点间距更小，而基板则采用更高的图案和嵌入式组件。缺陷在不断增加，缺陷检测则变得更加困难。通过使用具有最高灵敏度的高分辨率锁相热成像 (LIT)，Thermo Scientific™ ELITE™ 系统为各种缺陷......
在大体积样品上获得最高质量三个方向分辨率一致三维数据生命科学专用的 Thermo Scientific Volumescope 2 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是我们最先进的连续切面成像系统（Serial Block Face Imaging，SBFI）。该系统简单易用，让使用者能够完美精准的控制实验，已......
使用单颗粒分析技术测定大分子结构的完整解决方案冷冻电镜单颗粒分析技术（Single Particle Analysis，SPA）可测定蛋白、蛋白复合物和其他生物大分子近原子分辨率的三维结构。这一成功得益于玻璃化技术的应用，样品以很快的速度冷冻，与其生物特性相关的天然状态得以保存。SPA 彻底变革了整个结构生物学领域，使人们对许多生物学过程有了新的认识。SPA......
Thermo Scientific™ Quattro™ 将成像和分析的全面性能与独特的环境模式（ESEM）相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。如今，研究型实验室普遍要求现代的扫描电子显微镜可以适应多种多样的样品分析需求，希望在获得出色的图像质量的同时尽可能简化样品制备过程。Quat t r o 的场发射枪（FEG）确保了优异的分辨率，通过不同的探测器选......
Thermo Scientific™ Explorer™ 4 Analyzer 是用于颗粒物分布统计过程控制的解决方案，帮助确定制造工艺是否受控、查找颗粒以及大批量颗粒表征。Explorer 4 Analyzer 拥有强大的自动化和报告功能，占地面积小，使用维护成本低，对于寻求改善生产工艺和质量同时充分利用预算的企业而言是最佳解决方案。 Explorer 4......
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学......
产品描述：新一代的赛默飞世尔科技 Helios 5 DualBeam 具有 Helios 5 产品系列业界领先的高性能成像和分析性能。它经过精心设计，可满足材料科学研究人员和工程师对最广泛的 FIB-SEM 使用需求，即使是最具挑战性的样品。Helios 5 DualBeam 重新定义了高分辨率成像的标准：最高的材料对比度，最快、最简单、最精确的高质量样品制......
赛默飞扫描电镜Apreo适用于解决方案项目，参考多项行业标准。可以检测锂电池等样品。可应用于电池/锂电池行业领域。 Thermo Scientific 测厚系统包括 Beta 传感器、全光谱红外传感器等，种类齐全，可根据产品生产工艺提供最佳的测量控制方案。21PlusHD Beta 测厚系统主要适用于电极涂布，锂电隔膜等测量。赛默飞测厚仪具备了业内最高的条 ......
产品描述：Helios5DualBeam是赛默飞世尔科技全新一代的产品，它在高性能成像和分析性能方面处于领先地位。这款产品经过精心设计，可以满足材料科学研究人员和工程师对最广泛的FIB-SEM使用需求，即使是最具挑战性的样品。Helios5DualBeam重新定义了高分辨率成像的标准，具有最高的材料对比度、最快、最简单、最精确的高质量样品制备，以及用于S/T......