技术参数: 大范围高精度扫描探针显微镜 安捷伦5500LSSpecifications Stage - Standard vacuum chuck size: 150 mm - Sample thickness: up to 35 mm - Examination area: 150 m......
大范围高精度扫描探针显微镜 安捷伦5500LS Specifications Stage - Standard vacuum chuck size: 150 mm - Sample thickness: up to 35 mm - Examinatio......
从毫米到纳米的超大范围观察和测量自由切换多种显微镜观察模式 OLYMPUS LEXT OLS4500是结合了传统光学显微镜、激光扫描显微镜(LSM)以及扫描探针显微镜(SPM)功能的一体机。LEXT OLS4500可以满足不同样品的观测需求,是一台新时代的观察、测量装置。 LEXT OLS4500可以轻松实现从毫米到纳米的观......
重新构想的大批量自动化 S/TEM 成像和测量技术成像和计量技术快速、准确的数据精准的数据。Metrios DX 是一款彻底重新设计的 80-200 kV 扫描 / 透射电子显微镜,能够以前所未有的吞吐量提供基于 TEM 和 S/TEM 的、可重复的成像、分析和可测量计量结果。Thermo Scientific™ Metrios™ DX TEM 将成熟的技术......
Apreo功能最为丰富的高性能 SEMApreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术,可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。Apreo 是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台,而不会降低磁性样品性能。传统的高分辨率 SEM 透镜技术分为两类:磁浸没或静电。FEI 首次将两种技术结合到一个仪器中。这样做所产生的成效远远超过任一种镜筒的个体性能。两种技术均......
自动观察自动完成光路调整、扫描参数设定、图像处理 使用标准样品和标准探针时操作用时5分钟**自动观察模式,扫描范围1um× 1um ,256×256点阵。操作时长依赖于操作者。 传统的原子力显微镜需要人工调整光路、设定扫描参数、进行图像处理。但是SPM-Nanoa可以帮助用户毫无压力地完成这些操作性能优异从光学显微......
纳米力台NI-100,扫描电镜纳米力学样品台是研究材料变形行为和微观失效机制的重要工具,能够精确量化微纳米级材料的力学行为,并结合扫描电镜原位观测。纳米力学样品台包含多种加载模式:拉伸、压缩、压痕等;同时结合电学测量、高温加载、光纤传输实现多场耦合模式:包括原位力/热耦合、力/电耦合、力/热/电/光耦合等。......
技术指标法向力和摩擦力 - 双悬臂梁 标准 (ST)高载荷 (HL)高精度 (HR)zei大载荷 [mN]100100010zei小载荷 [µN]505005载荷精度 [µN]0.0330.003本底噪音 [µN]*1100.1* 本底噪音值取决于环境条件法向力测量:独立的高精度电容传感器摩擦力测量:独立的高精度电容传感器旋转模块转速:1 rpm ......
▶仪 器 介 绍产品源于中山大学光电材料与技术国家重点实验室, 相关技术“达到国际先进产品的水平”,多项研究成果 突破国际封锁和技术壁垒。产品技术团队与广东省集成 电路工程技术研究中心、广东省绿色电力变换及智能控 制工程技术研究中心、中山大学物理学院和中......