间带半导体材料的紫外吸收光谱
Agilent Cary WinUV 软件是 Agilent Cary 60 紫外-可见分光光度计的补充。这款功能强大、简单易用的紫外-可见软件平台围绕常规分析人员和研究人员等的需求设计。执行准确的波长扫描或检测，动力学和浓度分析，并控制多种采样附件（如 18 池更换装置）。Cary WinUV 软件套装拥有针对具体应用的各种软件模块，旨在简化方法......
安捷伦紫外Cary 7000可用于测定晶体材料，适用于二色性项目。并且参考多项行业标准。可应用于高分子材料行业领域。 多色性是一种透明晶体从不同角度观察会产生不同颜色的光学现象。有时颜色的变化仅限于阴影的变化，如从浅粉色变成深粉色。晶体可分为光学各向异性（立方晶体体系）、光学各向异性单轴（六角、三角晶体体系）和光学各项异性双轴（斜方、单斜、三斜晶体体系）几类......
安捷伦紫外Cary 7000用于测定晶体材料，符合行业标准。适用二色性项目。 多色性是一种透明晶体从不同角度观察会产生不同颜色的光学现象。有时颜色的变化仅限于阴影的变化，如从浅粉色变成深粉色。晶体可分为光学各向异性（立方晶体体系）、光学各向异性单轴（六角、三角晶体体系）和光学各项异性双轴（斜方、单斜、三斜晶体体系）几类。最大的变化仅限于三种颜色变化，这种现象......
安捷伦Agilent 全能型分光光度计 (UMS)Cary 7000用于测定亚纳米窄带滤光片，符合行业标准。适用表征项目。 带通滤光片可以做为光栅单色器的廉价替代品，用于分离窄波长区域。许多商用的带通滤光片的最大半峰宽为10nm。本文主要使用安捷伦Cary系列高端分光光度计对亚纳米带通滤光片的半峰宽进行了表征。测试的三个样品中，其中一个样品的半峰宽为3.1......
安捷伦紫外Cary 5000参考多项行业标准。完成晶体材料的检测。可以用在高分子材料行业领域中的二色性项目。 多色性是一种透明晶体从不同角度观察会产生不同颜色的光学现象。有时颜色的变化仅限于阴影的变化，如从浅粉色变成深粉色。晶体可分为光学各向异性（立方晶体体系）、光学各向异性单轴（六角、三角晶体体系）和光学各项异性双轴（斜方、单斜、三斜晶体体系）几类。最大的......
安捷伦Agilent 紫外-可见-近红外分光光度计Cary 5000可以用在电子/半导体行业领域，用来检测亚纳米窄带滤光片，可完成表征项目。符合多项行业标准。 带通滤光片可以做为光栅单色器的廉价替代品，用于分离窄波长区域。许多商用的带通滤光片的最大半峰宽为10nm。本文主要使用安捷伦Cary系列高端分光光度计对亚纳米带通滤光片的半峰宽进行了表征。测试的三个......
安捷伦Agilent 紫外-可见-近红外分光光度计Cary 5000可用于测定抗反射涂层,玻璃,建筑玻璃,金属/合金,激光镜片，适用于反射率,透射率,反射率,吸光度,测量涂层率,厚度,光学常数项目。并且参考多项行业标准。可应用于高分子材料行业领域。 Cary 5000 是一款高性能紫外-可见-近红外分光光度计，在 175-3300 nm 范围内具有......
安捷伦紫外Cary 5000适用于表征，透射性，杂质检测和识别项目，参考多项行业标准。可以检测滤光片，玻璃等样品。可应用于建材/家具行业领域。 安捷伦 Cary UV-Vis-NIR 固体样品支架用于固体样品固定位置的透射率测量。有几种配合支架使用的光阑掩屏可选，便于小样品的光束准直和测量。支架的多样性使其可进行各种测量配置，以便对各种类型和尺寸的样品进行测......
安捷伦认证翻新 紫外可见分光光度计Cary 60适用于表征，透射性，杂质检测和识别项目，参考多项行业标准。可以检测滤光片，玻璃等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 安捷伦 Cary UV-Vis-NIR 固体样品支架用于固体样品固定位置的透射率测量。有几种配合支架使用的光阑掩屏可选，便于小样品的光束准直和测量。支架的多样性使其可进行各种测量配置，以便对各......
点击查看下载安捷伦Cary 4000紫外 应用于电子/半导体相关资料，进一步了解产品。 由于仪器的光度线性范围限制，仪器随着光密度或浓度的增加测量吸光度的准确度会受到影响。光度线性度差会使仪器产生不正确的结果，并导致校准曲线变得非线性。滤光片技术的加入提供了一种简单而价廉的方法来证明大多数分光光度计的光度线性范围。本文主要介绍通过测试证明了新一代Cary40......