jsm-7800热场和冷场
显微热台广泛用于图象表征各种热转变过程，能够直接观察晶体或液晶样品在加热或冷却过程中的晶态变化以及结晶过程中形状、结构、颜色以及大小和数量的变化。FP82显微热台测量放置于玻璃片中的试样，通过显微镜系统观察并摄录试样的变化过程。FP84显微DSC热台测量放置于石英玻璃或蓝宝石坩埚中的试样，在通过显微镜观察并摄录试样变化过程的图像的同时，测量......
美国TA仪器DSC/DTANANO ITC参考多项行业标准蛋白质和多肽。完成蛋白质和多肽的检测。可以用在多个行业领域中的蛋白质和多肽项目。 Although membrane proteins are very difficult to work with, ultra-sensitive calorimetry can overcome the limit......
2016年新年伊始，日本电子株式会社（JEOL）即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能，JEM-F200进行了全新设计，在保障各种功能达到极限的同时，追求操作的简单化和自动化，为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为：......
外观设计精炼精炼的外型，全新的视觉感受。为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。四级聚光镜系统现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-......
四级聚光镜系统现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求。高端扫描系统JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析，该设备在常规的照明系......
高端扫描系统JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析，该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上，增加了新的扫描系统-“Advanced Scan System” 即成像系统的电子束扫描功能（选配）。皮米样品台驱动JEM-F200 采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive（不用压电驱动），能在宽动态范围移动视野-从样品的整......
产品规格超高分辨极靴高分辨极靴分辨率TEM点分辨率0.19 nm0.23 nmSTEM-HAADF 像0.14 nm @冷场枪0.16 nm @冷场枪0.16 nm @热场枪0.19 nm @热场枪加速电压200 , 80 kV200 , 80 kV主要选配件能谱仪（EDS）、电子能量损失谱仪（EELS）、CCD相机、TEM/STEM断层扫描系统2016年新......
点击查看下载超高分辨热场发射扫描电镜日本电子 观察和分析磁性样品相关资料，进一步了解产品。 JEOL热场发射扫描电镜的无漏磁物镜设计，使得观察和分析磁性样品变得非常容易，即使是磁性粉末或者磁性极强的样品也没有问题。 二次电子像 SE image样品: 金负载型TiO2催化剂(2kV)g利用GBSH观察利用GBSH对样品施加高偏压，像......
iSorb HP安东帕系列 吸附热的定义和计算有特定规范与标准，应用于多个行业领域。点击查看相关规范标准。 体系的任何变化都一定会伴随着能量的变化。大部分能量以热的形式体现出来，因此通过测量体系的温度变化就能够知道体系的能量变化。 该仪器具有以下特点：实验目标压力范围：可达0.0005 ~ 200 bar实验温度范围：20K-673 K(......
Cryosync安东帕比表面 吸附热的定义和计算有特定规范与标准，应用于多个行业领域。点击查看相关规范标准。 体系的任何变化都一定会伴随着能量的变化。大部分能量以热的形式体现出来，因此通过测量体系的温度变化就能够知道体系的能量变化。 安东帕正式发布自动低温变温控制器CryosyncTM。这款小巧玲珑的变形金“缸”，可以让用户用廉价易得的液氮（77.4K）代替......