荧光寿命测试用什么仪器
HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球领导者，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。在细胞科学、生物物理和材料科学领域，重要变化经常会发生在时间和空间的微小尺度里。时间分辨荧光显微镜是研究细胞结构和纳米材料领域中动态事件的终极工具。与传统的荧光强度成像（由荧光显微镜获得）不同，荧光寿命是......
HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球领导者，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外，可见，或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒，或更长的寿命范围。HORIBA Scientific提供的研究级荧光寿命光谱仪有模块化或紧凑型设计，......
X荧光光谱仪工作原理是具有一定能量分辨率的X 射线探测器同时探测样品所发出的各种能量特征X 射线探测器输出信号幅度与接收到的X 射线能量成正比，利用能谱仪分析探测器输出信号的能量大小及强度，对样品进行定量，定性分析。X荧光光谱仪（简称XRF），它是由X光管发射的X射线,经过滤光片后，X射线的背景射线被滤光片吸收而减弱，然后经准直器变成平行光束，照射在样品上，......
主要使用X射线束激发荧光辐射，第一次是在1928年由格洛克尔和施雷伯提出的。到了现在，该方法作为非破坏性分析技术，并作为过程控制的工具，广泛应用于采掘和加工工业。原则上，最轻的元素，可分析出铍（z=4），但由于仪器的局限性和轻元素的低X射线产量，往往难以量化，所以针对能量分散式的X射线荧光光谱仪，可以分析从轻元素的钠（z=11）到铀，而波长分散式则为从轻元素......
LIFA荧光寿命系统附件LIFA是适用于荧光寿命显微成像（FLIM）。该设备可以利用频域技术在任何宽场显微荧光成像系统获得寿命变化相关图像。系统包含TRiCAM M可调制型像增强CCD相机，可调制光源，调制控制器，定制电脑以及LI-FLIM软件。像增强相机包含像增强器，CCD相机，可以获得*高增益和采集速率。LIFA荧光寿命系统附件关键特点：精准的......
天瑞仪器X荧光镀层测厚仪 Thick 800A可用于测定废气、废水、废渣，适用于分析电镀产生的废气、废水、废渣项目。并且参考多项行业标准RoHS 2.0指令。可应用于高分子材料行业领域。 良好的射线屏蔽作用 测试口高度敏感性传感器保护技术指标型号：Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀（U）。一次可同时分析多24个元素，五层镀......
堀场HORIBA分子荧光FluoroCube / UltraFast适用于寿命衰减项目，参考多项行业标准0。可以检测NATA等样品。可应用于蛋白行业领域。 • 激发/发射单色仪：Seya-Namioka型，波长可调（200~800 nm），与样品仓盖之间集成安全锁，同步手动调节狭缝宽度（1~32nm）&n......
分子荧光堀场HORIBADeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统 荧光寿命：时域荧光或频域荧光
参考成交价格： 暂无
型号：DeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统
堀场HORIBADeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统用于测定时域荧光,频域荧光，符合行业标准0。适用荧光寿命项目。 HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球领导者，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。新一代荧光寿命测试系统-DeltaPro，其独一无二的高性能以......
堀场HORIBADeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统可用于测定时域荧光,频域荧光，适用于荧光寿命项目。并且参考多项行业标准0。可应用于多个行业领域。 HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球领导者，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。新一代荧光寿命测试系统-De......
产品说明、技术参数及配置目前，国内外对石油化工产品，尤其是油类产品如柴油、汽油、润滑油中硫含量的限制管控已成为全球环保重点。含硫量高的油样燃烧后生成二氧化硫，通过化学反应容易生成亚硫酸或者硫酸，对发动机有腐蚀作用。大量的硫的氧化物排放到空气会导致空气污染，比如酸雨的形成。汽油中的硫燃烧后形成过多的硫酸盐，其附着在催化器贵金属涂层的表面，容易造成汽车尾气排放不......