txrf测试
2012年2月底，Petrotest公司正式成为安东帕公司的第十七个子公司，并改名为Petrotest GmbH，A company of Anton Paar, 同时由安东帕公司全面负责Petrotest公司产品在国内的相关业务。目前Petrotest公司产品涵盖闪点测试、馏程测定、燃料油检测（胶质、氧化 安定性测定、蒸汽压测定、铜片腐蚀等），润滑油测定（......
痕量分析 TXRF 光谱仪 快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U，检出限到2pg。 需要样品量少，液体及悬浮物样品1-50微升，粉末样品10微克以内。 ......
吉恩纳能散型XRFTX 2000用于测定雨水，符合行业标准TXRF。适用痕量元素项目。 本文章研究了全反射X射线荧光光谱法(TXRF)用于雨水样品痕量元素分析的适用性。这项研究被用来开发新加坡国立大学的雨水标样，通过测试得出痕量元素Mn，Fe，Ni，Cu，Zn，V和Pb的平均精密度在16％以内，浓度低于20μg/L，测定值与标样的平均偏差为20％（不包括Fe......
吉恩纳能散型XRFHORIZON可用于测定固/液体材料，适用于元素分析项目。并且参考多项行业标准。可应用于环境水/废水行业领域。 TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部......
吉恩纳 全反射X荧光光谱仪HORIZON用于测定液体固体，符合行业标准。适用含量项目。 TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避......
吉恩纳 全反射X荧光光谱仪HORIZON可用于测定大米，适用于K Ca Mn Fe Cu Zn As项目。并且参考多项行业标准GB 2762。可应用于粮油/豆制品行业领域。 TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种......
吉恩纳 全反射X荧光光谱仪HORIZON适用于水样, 烟叶, 污泥项目，参考多项行业标准。可以检测水样, 烟叶, 污泥等样品。可应用于土壤行业领域。 TXRF是一种能量色散X射线荧光（EDXRF），其中X射线以很小的入射角照射以薄层形式沉积在样品台上的样品，进而产生全反射效应。 仪器简介 TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成......
吉恩纳 全反射X荧光光谱仪HORIZON可以用在电子/半导体行业领域，用来检测N/A，可完成N/A项目。符合多项行业标准。 仪器简介 TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以......
吉恩纳 全反射X荧光光谱仪TX 2000参考多项行业标准。完成环境样品的检测。可以用在环境水/废水行业领域中的含量项目。 仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部......
吉恩纳能散型XRFTX 2000用于测定液体固体，符合行业标准。适用含量项目。 仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避......