JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,zei高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zei高的STEM-HAADF像分辨率。产品特点:实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率JE......
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,zei高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zei高的STEM-HAADF像分辨率。产品特点:实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率JE......
产品特点:实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器,zei高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zei高的STEM-HAADF像分辨率。STEM-HAADF像的保证分辨率达到了前所未有的63pm采用JEOL自主研发的球差校正器,扫描透射像(STEM像)的保证......
产品特点:STEM-HAADF像的保证分辨率达到了前所未有的63pm采用JEOL自主研发的球差校正器,扫描透射像(STEM像)的保证分辨率可达63pm(300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时)。ETA校正器 JEOL自主研发的12极球差校正器 ※选配件ETA校正器(Expanding trajectory aberration correcto......
产品特点:强大的冷场发射电子枪HyperCF300标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。两种物镜极靴为了支持用户广泛的需求,研发了两种各具特点的物镜极靴。丰富的选购件能安装超大立体角EDS(能谱仪)、EELS(电子能量损失谱仪)、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。大范围的加速电压设置标配300kV和80kV下的......
产品规格:分辨率300 kV,80 kV物镜种类※1UHR极靴HR极靴STEM分辨率(300kV) 使用STEM校正器0.063nm0.082nmTEM分辨率(300 kV)线分辨率0.05nm线分辨率0.06nm使用TEM校正器非线性信息分辨极限0.06nm非线性信息分辨极限0.08nm线性信息分辨极限0.09nm线性信息分辨极限0.12nmJEM-ARM......
Phenom Pharos 台式场发射扫描电镜因其多功能性和卓越的成像性能赢得了良好的口碑 —— 即使是在传统较难观测的样品中也表现优异。直观的用户界面有助于将高分辨率图像呈现给用户, FEG 场发射电子源在 1-20kV 的加速电压范围内都提供了高分辨率。Phenom Pharos STEM 台式场发射 SEM-STEM 电子显微镜,配备了 STEM 样品......
中文名:碳英文名:Carbon纯度:纳米粉末,<100 nm 粒径 (TEM)货号:C434781Cas号:7440-44-0产品介绍:碳纳米粉末具有非石墨结构,即不具有长的结构顺序。应用将纳米碳粉用于氧化处理纳米碳的对比研究。非石墨碳可以以涂层的形式用于锂离子电池。制备说明通过激光技术形成的无定形材料。查看阿拉丁官网此产品相关对应页面:https://ww......
赛默飞200 kV场发射透射电镜Talos F200i TEM 高质量、高分辨率的 (S)TEM 成像和灵活的 EDS 可使用高分辨率、高亮度(冷)场发射枪 可提供双 EDS,以获得较高的分析通量Talos F200i TEM用于高通量、高分辨率化学表征和动态观察的 TEM 和 STEM 分析。Talos F200i 透射电子显......
Thermo Scientific™ Metrios™ AX S/TEM 是一款 60–200 kV 扫描/透射电子显微镜 (S/TEM),它采用全新设计,能够在前所未有的通量水平上提供可重复的基于 TEM 和 STEM 的成像、分析和测量结果。Metrios AX S/TEM 配有一套软件,可支持提升生产率的自动化功能、基于机器学习的导航和全天候自动化等功......