dls粒度分析仪

安东帕Litesizer DLS系列动态光散射粒度和Zeta电位分析仪能提供一流的粒度测量,并具有自动角度选择功能以减小误差,而 MAPS 技术可实现一流的峰值分辨率。连续的透射率检测可以监控测量过程中样品的沉淀和结块,提高测量的可靠性。作为我们系统的独特之处,cmPALS 和 Omega Cuvette 通过解决老化效应并降低电势梯度来提高 zeta 电位......

仪器简介:PSM-400MPX是对矿浆浆流连续在线粒度分析的监视器,是在选矿业已有广泛应用的PSM-400MP和PSM-400的升级产品。而PSM-400MP和PSM-400在磨料回路控制系统中已经是在线实时粒度仪表的工业标准。PSM-400MPX能够测量多个粒级和固体百分含量。测量技术是基于超声波吸收现象来测量粒度和料浆中的固体百分含量。这个技术被Auto......

主要特点:颗粒尺寸测量:前所未有的分辨率由于固件采用了非常先进的算法,因此可以精确测量单一悬浮液中几种不同的颗粒尺寸。可自动测量连续的透射比通过透光率,您可以立即获得样品反馈并自动优化测量参数(角度、聚焦位置和测量持续时间)。 简单智能的软件 - Kalliope™Kalliope™ 提供一页式工作流,输入参数、测量和分析唾手可得。此外,Kalli......

点击查看下载粒度分析仪激光粒度仪岛津 样本相关资料,进一步了解产品。 SALD系列提供了一组产品,适合多种粒度范围测量。参考测量范围表选择更佳型号。 SALD® 201V粒度分析仪是一个便捷、经济的仪器,具有高性能、高可靠性,广泛应用于食品、液体、化妆品和制药领域。其测量范围为0.25到350µm,适用于大部分常规分析需求。Windows® 95WingSA......

点击查看下载激光粒度仪 纳米粒度及Zeta 电位分析仪Litesizer 500 不同低聚糖铁纳米颗粒的DLS、ELS和SAXS表征相关资料,进一步了解产品。 DLS和SAXS是高度互补的颗粒分析技术,能够分别表征颗粒的粒径分布及颗粒形状、核-壳结构等信息。此外,可以通过ELS技术测量颗粒的表面电荷,从而得到有关胶体稳定性的有关数据。此报告通过表征用于静脉治......

点击查看下载激光粒度仪Litesizer 500 纳米粒度及Zeta 电位分析仪 动态光散射DLS测量胶束粒径中: 粘度的重要性相关资料,进一步了解产品。 DLS测量中用到斯托克-爱因斯坦方程,动态粘度是此方程的一个参数。对一些样品来说,采用溶剂的动态粘度来进行计算是可接受的,但当颗粒对悬浮液的粘度影响很大时,采用溶剂的粘度就会对DLS结果造成相当大的偏差。......

纳米粒度及Zeta电位分析仪DLS100是集成纳米胶体溶液的颗粒粒度,及其Zeta电位分析的高性能光学检测装置。Zeta电位纳米粒度仪DLS100的原理分别是:动态光散射(Dynamic Light Scattering,DLS)技术,与电泳光散射(Electrophoretic Light Scattering, ELS)技术。应用上述技术,可以实时、准确......

产品特点高速、准确的检测能力高性能自适应光子相关器,提高检测的实时性、准确性和重复性自适应光源强度调节,保证测量装置检测性能的稳定性和重复性高灵敏度和稳定度的光子计数级光电信号检测能力,可靠的光纤耦合装置,高效地增加DLS和ELS信号的信噪比,提高测量稳定性准确智能的频谱分析算法,提高ELS的测量精度高稳定性的光路与电路设计:消除杂散光和噪声信号的影响,结果......

纳米粒度及Zeta电位分析仪DLS100技术参数粒径测量范围:0.7-10um(动态光散射法);Zeta电位测试范围:-500~﹢500mV;准确性与重复性:优于2%(国家标准样品 D50 值);检测角度:90°、18°;样品池:塑料样品池、Zeta电位样品池;温控范围:10℃-50℃,精度±0.1℃,半导体制冷;激光光源:可调半导体激光器,波长635nm、......

纳米粒度仪DLS90是通过动态光散射技术,表征颗粒大小和分布的一种仪器。贝拓科学自主研发的国产纳米粒度仪DLS90是一款基于伤处原理研发的纳米颗粒粒度表征分析仪。分散在液体中的颗粒由于受到液体分子的热运动撞击而进行不规则的布朗运动。在相同环境下,颗粒尺寸越小,布朗运动越剧烈,对应颗粒的扩散行为越明显。当一束激光照射到这些颗粒时,其散射光的强度会由于颗粒的布朗......

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