日本hitachi公司研制的s-4800扫描电子显微镜
Helios DualBeam™扫描电子显微镜......
扫描电子显微镜 (SEM) 不仅是开展科研工作所必不可少的工具，对于需要品控的制造工厂也是不可或缺的。 在这些场景中，用户需要重复执行相同的观察操作，因此快速完成这些操作有助于提高工作效率。 JSM-IT510 新增的“简单 SEM”功能，用户可将 SEM 观察所需的“手动重复操作交给它”，从而更高效、更轻松地完成 SEM 观察。 N......
备注：Windows10 为美国微软公司在美国及其它国家的注册商标或商标主要选配件背散射电子检测器（BED) ※1低真空二次电子检测器（LSED)能谱仪(EDS)※2波谱仪（WDS）电子背散射衍射检测器(EBSD)加载互锁真空室（预抽室）样品台导航系统（SNS）样品室观察系统(CS)操作面板3D测量软件操作台※1 为JSM-IT500LV/LA的标......
JSM-IT300HR是JEOL InTouchScope系列的新机型。采用了新型电子枪和透镜系统的JSM-IT300HR ，能获得更高质量的图像数据，实现了高灵敏度、高空间分辨率。这款新锐的扫描电镜不仅提供卓越的性能，而且还保持了InTouchScope系列备受好评的易用性。卓越的性能可操作性强: 高亮度电子枪大大减少了从观察到分析的调整步骤 即使在工......
卓越的性能可操作性强: 高亮度电子枪大大减少了从观察到分析的调整步骤 即使在工作距离10 mm、探针电流1 nA的分析模式下也能获取10万倍的清晰图像。常规的W-SEM在观察模式下可以获得清晰的10万倍的图像(如左图)，但在分析模式下图像会变得模糊(如下图)。而JSM-IT300HR扫描电镜即使在分析模式下也能获得明锐的图像。观察：低加速电压和低真空模式便于......
简单 SEM只需选择目标视野“简单 SEM”支持日常工作样品：电子元件 加速电压：15 kV，放大倍数：×50（上部） ×1,000（下部），信号： BE样品交换导航从样品交换引导至自动观察 安全简单！1. 按照导航指南设置样品 &n......
JSM-IT200是一款更简洁、更易于使用且性价比高的扫描电子显微镜。使用初学者易懂的样品交换导航，可以轻松地从样品台搜索视野并开始观察SEM图像。Zeromag能像光镜一样直观地搜索视野，Live Analysis*²可以不用特意分析就能实时获取元素分析结果，SMILE VIEWTM Lab能综合编辑观察和分析报告等，使它成为一个分析业务的软件。......
点击查看下载 扫描电子显微镜日本电子扫描电镜 样本相关资料，进一步了解产品。 JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者，近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好，稳定性强且智能化程度高，操作得心应手，是材料表征和分析的绝佳选择。 JSM-IT300HR是JEOL InTouchScope系列的新机型。采用了新型电子枪和透镜系统的JSM-IT300HR ，......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
功能特点：1. 高分辨模式，高束流模式。大工作距离模式，磁性样品模式等多种工作模式。2. 采用新型E×B式探测器，可选择接受二次电子像或背散射像。3. 配有电子束减速功能，提高了图象质量。4. 配有电制冷能谱仪，可进行定点元素成分定性和无标样定量分析，并进行元素线扫描、面分布的分析。仪器说明：1. ......