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BeamCheck 集成CCD 光束分析仪直接探测高功率激光的光斑，以及一台功率计用于实时监测测量激光的功率。特殊的分束系统使其可以直接用于高功率激光，极小部分功率被分配给光束分析仪进行光斑分析，而大部分功率由功率计直接探测激光功率。可在近场或焦点处测量。BeamCheck增材制造专用激光分析系统主要特点：• 可以测量工作面的激光焦点尺寸以及功率密度• 波长......
BeamWatch AM 是一款集成的激光测量系统，用于测量激光增材制造系统的关键激光束参数。包括腰( 焦点) 宽度和位置、焦点变化、重心、M2、瑞利长度、倾角等。BeamWatch AM 测量技术是基于激光在传播时，空气中氧和氮分子对激光产生瑞利散射。对这种散射光的测量提供了对激光束在观察视图方向上的分析。同时BeamWatch AM 内部......
通过输液监测智能设备自动提醒护士输液进度，输液过程实时监测：输液过快、过慢、滴停及时告警、输液完成提示；全程记录输液过程并形成数据库，同时按管理要求生成统计报表，为护理工作的持续质量改善提供循证数据依据。提升护理工作效率，减轻护士工作压力，减少不必要的重复劳动提高输液护理工作的安全性，为医院打造“无铃声”病房。 &nb......
采用标准的气相色谱分析方法，测量准确，采用全程高温伴热设计，从采样到分析全程高温，避免高沸点VOCs的附着，防止部件腐蚀，系统采用主气路抽气、旁路分析仪进气的取样方式，保证系统的响应时间，系统经过三级过滤，保证分析仪的使用寿命。行业应用广泛用于工业过程及环境领域非甲烷总烃及苯系物等的排放监测，如石化化工、精细化学、医药、半导体制造、皮革加工、印刷、喷涂、......
珀金埃尔默 微波消解系统Titan MPS用于测定电子产品：塑料，电线绝缘，焊料，电线，电路板，符合行业标准 http://ec.europa.eu/environment/waste/rohs_eee/index_ en.htm。适用镉 铬 汞 铅项目。 zei高压力： 40 | 100barzei高温度： 260摄氏度微波源......
安捷伦Agilent 气相色谱系统Intuvo 9000用于测定电器电子产品，符合行业标准国际电工委员会 (IEC) 标准检测方法 IEC 62321-6: 2015；中国国家标准 GB/T 26125―2011《电子电气产品六种限用物质（铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚）的测定》；《报废电子电气设备指令》(WEEE-2002/96/EC)；《关于......
岛津 RoHS筛查系统Py-Screener可用于测定电子产品，适用于邻苯二甲酸酯和溴化阻燃剂项目。并且参考多项行业标准IEC 62321-8:2017。可应用于电子/半导体行业领域。 【方案摘要】 PY-Screener- RoHS限用有机物质快速筛查系统RoHS 法规限量物质和限量要求 PY –Screener - RoHS限用有机......
应用领域可用于连续性、多样性工作室的各种制造设备的低真空领域的过程管理。可用于光伏、制冷、照明行业。可用于需要显示压力的真空设备。产品特点菜单式按键操作模式、操作简单、便捷；全新硬件及软件设计，稳定可靠、抗干扰能力强；轻量化设计，重量轻；产品适用电压范围宽、环境适应性强，可在全球范围内适用；产品智能化程度高，通讯协议、模拟量、控制点可自由设定。产品特性1、 ......
产品详情探伤方法双晶直探头/横波斜探头探伤方式水膜耦合/接触法检测速度列车最大行驶速度4.5km/h可探测轮辋深度车轮踏面下10~30mm深度范围内的连续壳层检测灵敏度踏面下30mm处Φ3x100mm 横孔；踏面滚动圆下20mm处长轴40mm、短轴30mm的椭圆平底孔；轮缘顶部径向5mm深的刻槽检出缺陷后的处理即时给出声/光报警信号仪器介绍适用于检测车轮轮辋......
WD4000晶圆制造翘曲度厚度测量设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数，......