薄膜密度测量仪
ATGX310系列光学薄膜厚度测量仪产品概述光学薄膜厚度测量系统，是利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。工作原理光学薄膜厚度测量系统，是利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。它利用波长范围最宽为200-17......
点击查看下载密度计安东帕新版数字式 啤酒分析测量仪器总目录相关资料，进一步了解产品。 测量准确度：DMA 4100 M: 0.0001 g/cm3DMA 4500 M: 0.00005 g/cm3（全范围）/0.00001g/cm3 （0.8-1g/cm3，15-20℃）DMA 5000 M: 0.000007 g/cm3功能简介：- FillingChe......
点击查看下载数字式密度计安东帕 啤酒分析测量仪器总目录相关资料，进一步了解产品。 距离安东帕在法兰克福阿赫玛(Achema)展示数字密度计，已经过去了一段时间。早在1967年推出的密度计DMA 02 C是液体分析领域创新的缩影，这对后续密度测量技术的发展影响深远。 直到今天，安东帕密度计依旧是全世界密度测量领域的领导者，而这一地位不仅仅是因为我们持续不断地......
综合概述 SM200是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研 制而成的自动薄膜厚度测绘仪。它利用波长范围最宽 为200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面，只要薄膜有 一定程度的透射，SM200就能根据反射回来的干涉光 谱拟合计算出薄膜的厚度，以及其他光学常数如反射 率、折射率和消光系数等，其厚度最大测绘范围可以 ......
中图仪器NS系列国产薄膜台阶高度测量仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm......
中图仪器NS系列接触式薄膜台阶测量仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。仪器采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能......
