fsm-128-500tc 薄膜应力测量仪
FST 6000 在线薄膜应力测量仪可测量晶圆类光电薄膜样品的弓高、翘曲、轮廓形貌、曲率半径和薄膜应力高通量的工艺控制需求方案双波长扫描全自动测量产品介绍基于经典基片弯曲法Stoney公式测量原理，采用先进的激光扫描方式和探测技术，以及智能化的操作，使得FST5000薄膜应力仪特别适合于晶圆类光电薄膜样品的弓高、翘曲、轮廓形貌、曲率半径和薄膜应力测量和计算。......
FST1000 薄膜应力测量仪硬质涂层残余应力测量，可测范围：0.1GPa~10 GPa量级易操作全自动测量高性价比产品介绍基于经典基片弯曲法Stoney公式测量原理，采用先进控制技术和傻瓜化的操作，使得FST1000薄膜应力仪特别适合于要求快速测量硬质涂层等薄膜残余应力（典型值0.1GPa到10 GPa量级）。源自中科院金属研究所和深圳职业技术学院相关研究......
FST 5000 薄膜应力测量仪可测量晶圆类光电薄膜样品的弓高、翘曲、轮廓形貌、曲率半径和薄膜应力双波长扫描全自动测量高性价比产品介绍基于经典基片弯曲法Stoney公式测量原理，采用先进的激光扫描方式和探测技术，以及智能化的操作，使得FST5000薄膜应力仪特别适合于晶圆类光电薄膜样品的弓高、翘曲、轮廓形貌、曲率半径和薄膜应力测量和计算。基本参数技术规格参数......
技术参数：X射线在线测厚仪： 应用：浮法玻璃生产线冷端厚度和应力测量 测量范围：1－20mm 精度：0.1% 主要特点：特点： 1 测量精度高 2 安装维护方便 3 使用安全环保 4 长期稳定性好 5 在线测量厚度和应力，提高产品质量，降低成本 ......
ATGX310系列光学薄膜厚度测量仪产品概述光学薄膜厚度测量系统，是利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。工作原理光学薄膜厚度测量系统，是利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。它利用波长范围最宽为200-17......
综合概述 SM200是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研 制而成的自动薄膜厚度测绘仪。它利用波长范围最宽 为200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面，只要薄膜有 一定程度的透射，SM200就能根据反射回来的干涉光 谱拟合计算出薄膜的厚度，以及其他光学常数如反射 率、折射率和消光系数等，其厚度最大测绘范围可以 ......
中图仪器NS系列国产薄膜台阶高度测量仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm......
