tem衍射样品
PicoFemto透射电镜TEM冷冻样品杆，TEM冷冻样品杆可以使被观测样品处于液氮低温下，减弱了电子束辐照对样品的损伤，同时也能研究材料的低温结构。PicoFemto透射电镜TEM冷冻样品杆，TEM冷冻样品杆可以使被观测样品处于液氮低温下，减弱了电子束辐照对样品的损伤，同时也能研究材料的低温结构。 TEM冷冻样品杆性......
特征X射线及其衍射X射线是一种波长（0.06-20nm）很短的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线，它具有靶中元素相对应的特定波长，称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。普析系列衍射仪XD6X射线衍射仪X射线光源的数字控制XD6型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构......
多晶衍射仪法的原理与照相法类似，只是用射线记数器记录衍射线的位置和强度，加上与电子计算机联用，可使测量的准确度高、分辨能力强且迅速方便，并能自动将样品的数据与计算机贮存的标准数据对照而鉴定样品的物相。XD2/3型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品功能齐全，灵活适应各种物质微观结构的测试、分析和研究。产品采用了θ-θ测角仪立式、中空轴、射线管......
多晶X射线衍射仪也称为粉末衍射仪，被测对象通常为粉末、多晶体金属或高聚物等块体材料。多晶衍射仪主要由以下四部分组成：1、X射线发生器--产生X射线的装置；2、测角仪--测量角度2θ的装置；3、X射线探测器--测量X射线强度的计数装置；4、X射线系统控制装置--数据采集系统和各种电气系统、保护系统。仪器简介： ......
X射线衍射测试系统包含：多功能X射线衍射仪、单晶X射线衍射仪、台式X射线衍射仪等设备，可提供粉末、薄膜物相定性定量分析、结晶度分析、织构、应力及晶粒大小分析；可以进行原位电池充放电反应测试；小分子化合物、配合物以及药物等晶态物质的三维空间结构测定。粉末样品要求：干燥，在空气中稳定，粒度均匀，粒径≤10µm，粉末样品量约需1-2g仪器简介：Miniflex60......
该设备可用于普通粉末样品、块状样品、片状样品、非晶样品等的物相分析（定性、定量分析）等。块状样品要求：测试面清洁平整，形状为板状、片状或丝状，除块体外、也可是有衬底的薄膜或镀层，样品整体厚度≤2mm、直径≤10mm仪器简介：Miniflex600系列是世界上体积很小、 重量很轻的便携式X射线衍射仪。主要特点： ......
服务范围：1.可用于普通粉末样品、块状样品、片状样品、非晶样品等的物相分析（定性分析）；2.适用于材料科学、化学、物理、生命科学、药学、环境科学等领域。样品要求：1.粉末样品要求：干燥，在空气中稳定，粒度均匀，粒径≤10µm，粉末样品量约需1-2g；2.块状样品要求：测试面清洁平整，形状为板状、片状或丝状，除块体外、也可是有衬底的薄膜或镀层，样品整体厚度≤2......
TEM 原位加热样品杆 Wildfire 能够对材料在高温作用下的变化进行原位表征。使用 Wildfire 原位样品杆，样品以及样品所处的环境的温度可以得到稳定且精准的控制，同时可以保持 TEM 在非原位时的最佳性能。 TEM 原位加热样品杆 DENSsolutions Wild......
产品概况TEM 原位热电样品杆 Lightning 帮助研究人员在精准控制加电和加热环境的同时观察样品变化的实时动态过程，同时可以保持 TEM 在非原位时的最佳性能。 TEM 原位热电样品杆 DENSsolutions Lightning 扩展了 TEM 的应......
Arctic 原位冷冻热电样品杆Lightning Arctic TEM 原位冷冻热电样品杆是 DENSsolutions 全新升级创新的原位解决方案，可以在冷却或加热样品的同时，对其施加可控的电学刺激，并以原子级分辨率在透射电镜下观察样品的实时动态过程。温度范围 -160℃ 至 1000℃，它大大拓宽了 TEM 的应用领域范围，进而为研究低温物理，以及探究......