eds死时间
使用 Thermo Scientific™ QUASOR™ 电子背散射衍射同时轻松获得 EBSD 数据和 EDS/WDS 全谱图像。 QUASOR 电子背散射衍射用于表征晶体结构特征，该特征决定了扫描电子显微镜 (SEM) 和 X-射线微区分析所分析的多种材料的物理性质。作为 Thermo Scientific™ NORAN™ 7 系统平台的全面集......
TEM、STEM 和 SEM （T-SEM） 中纳米尺度的 EDS 元素面分析清晰的多功能测量装置和细管径几何构型可确保在常规基础上快速可靠的采集 TEM EDS 数据。使用 HyperMap 或谱图获取高光谱成像，我们的软件保存每个像素的谱图和定量分析所需的所有元数据，用于之后的检测和处理。适合不同电子显微镜极靴类型的的 EDS 细管径设计和优化的EDS ......
先进的 3D EBSD&EDS 数据后处理软件平台ESPRIT QUBE 是用于先进的 3D EBSD 和 EDS 数据的后处理和可视化软件平台。QUBE 是由德国杜塞尔多夫Max Plank 铁研究所的专家团队合作开发，拥有基于单元四元数运算的先进内核，这是在 3D 空间中表示和旋转物体的理想方式，完全没有像云台锁这样......
产品规格：能量分辨率0.3eV（Al-L 光谱图73eV处测试）获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区50-170eV获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区70-210eV分光谱仪艙安装位置：EPMA的WDS接口：NO.2接口（正面右侧）FE-SEM的WDS接口（正面左后侧）分光谱仪尺寸 W 168mm×D 348mm ×H 683mm* 从接口包括CC......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......
UltraDry EDS 检测器Thermo Scientific™ UltraDry EDS 检测器具备卓越的分辨率和不可思议的高采集率，可提供更快、更精确的 X-射线分析。产品概述Thermo Scientific™ UltraDry EDS 检测器可为金属、采矿、先进材料和半导体等行业提供更快、更精确的 X 射线分析，并且能为 Thermo Scien......
赛默飞最干净的能谱透射电镜Talos F200S TEM精确的化学成分数据为动态显微镜检查提供高性能的成像和精准的成分分析配有 Velox 软件、可实现快速、轻松的获取和分析多模态数据Talos F200S G2 透射电镜TEM 显微镜用于高生产率、高分辨率 TEM 和 STEM 表征，并具有化学定量功能。Talos F200S G2 透射电子显微镜Ther......
全自动、高生产率的半导体计量工作流程Thermo Scientific Metrios 6 （S）TEM 是新一代全自动计量解决方案，可提高生产率和数据质量，适用于大批量 TEM 计量。Metrios 6 （S）TEM 具有全新设计的硬件和基于机器学习的功能，与上一代解决方案相比，生产率平均提高了 20%。Metrios 6 （S）TEM 包括新的智能载物台......
