图2- 8 日本日立s4800型冷场发射扫描电镜
冷场发射扫描电子显微镜JSM-7500F是一款功能强大,操作简便,节约能源的分析型场发射扫描电子显微镜.JSM-7500F具有其他扫描电子显微镜没有的低电压下的高分辨率,在1KV下,分辨率达到了1.4nm.JSM-7500F提供了以前只有在浸没型物镜中才能达到的性能(30KV下0.6nm),但是样品尺寸不会如浸没型物镜扫描电子显微镜那样受到限 制,可以操控直......
主要特点：1.标配的五轴马达驱动全对中样品台2.zei先进的磁悬浮分子泵系统，无需UPS保护 3.主动式减震器4.全自动样品更换气锁 5.全自动样品监控系统 6.全自动物镜光阑 7.多通道显示系统 8.自动减速系统标准配置 9.LABe™* - 低角度背散射电子图像。 (1)消 除充电效应。 (2......
日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差，亮度低，无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题，并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时，能量分辨率提高到0.3eV，极大......
产品特点：JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器，是一款原子分辨分析型透射电镜，拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率（78pm）。STEM-HAADF像的保证分辨率（78pm*1 ）为世界之领先性能标配照明系统球差校正器，且zei大限度地提升了装置的机械稳定性和电气稳定性，实现了世界领先的STEM-HAADF像分辨率 （78pm*1、......
2016年新年伊始，日本电子株式会社（JEOL）即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能，JEM-F200进行了全新设计，在保障各种功能达到极限的同时，追求操作的简单化和自动化，为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为：......
外观设计精炼精炼的外型，全新的视觉感受。为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。四级聚光镜系统现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-......
高端扫描系统JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析，该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上，增加了新的扫描系统-“Advanced Scan System” 即成像系统的电子束扫描功能（选配）。皮米样品台驱动JEM-F200 采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive（不用压电驱动），能在宽动态范围移动视野-从样品的整......
产品规格超高分辨极靴高分辨极靴分辨率TEM点分辨率0.19 nm0.23 nmSTEM-HAADF 像0.14 nm @冷场枪0.16 nm @冷场枪0.16 nm @热场枪0.19 nm @热场枪加速电压200 , 80 kV200 , 80 kV主要选配件能谱仪（EDS）、电子能量损失谱仪（EELS）、CCD相机、TEM/STEM断层扫描系统2016年新......
主要特点◇ 自动样品更换系统该系统由一个液氮冷冻样品台和冷冻传输系统构成， 该冷冻传输系统能够自动地将冷冻样品传送到冷台，液氮也是按照 需要自动地供应给液氮箱。在样品更换系统内可以保管12个被冷冻的样品，在取出和更换一个或几个样品的同时，其他的冷冻样品仍然保存在自动样品更换系统内。◇ 冷场发射电子枪冷场发射电子枪能够产生高亮度低能量散射的......
FE-SEM获得的图像分辨率高，信息丰富，样品处理相对简单，并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构，因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生命科学、材料等领域。近年来，以Materials Integration为代表，其应用领域及用途在不断护展，短时间内获取大量数据，减轻作业负荷成为市场的一大需求。为满足这一需求，此次特推出的SU8600系列秉承了......