蔡司电子显微镜
TecnaiFEI Tecnai™ 透射电子显微镜 (TEM) 旨在为生命科学、材料科学、纳米技术以及半导体和数据存储行业提供真正的通用成像和分析解决方案。Tecnai G2 系列将现代技术与科学界极富创新能力且严格的要求完美结合起来，而且该产品系列中包括将近 20 款型号。更多信息，您可访问：http://www.fei.com/pro......
Talos先进科技集于一身 Talos™ 是新一代 TEM 产品，致力于让用户迅速访问二维和三维数据，从而专注于研究发现。Talos 的配置适合开展材料研究和生命科学研究，是一款融合了众多创新技术的多功能系统，能够在未来数年里满足您的研究需求。Talos 的材料科学应用Talos 可以在多个维度开展快速、精确、量化的材料表征分析，而且配备了全新的软......
Helios DualBeam™扫描电子显微镜......
技术参数：1.分辨率: 二次电子: 高真空模式 3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV 高真空减速模式 7nm @ 3kV (可选项) 低真空模式 3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV 环境真空模式 3.0nm @ 30kV 背散射电子 4.0nm @ 30kV2.样品室压力最高达2600Pa3.加速电压200V ～ 30kV，连......
FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统，能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性，非常适于学院、政府和工业研究环境中的纳米量级研究与分析。高级检测技术是 FEI Scios 的核心技术。透镜内 FEI Trinity™ 检测技术能够同时收集所有信号，既节省了时......
蔡司高分辨场热发射台式扫描电子显微镜 Sigma 300可用于测定粉体类，适用于粉体类样品离子束切割的扫描电镜制样项目。并且参考多项行业标准圆派科学仪器。可应用于高分子材料行业领域。 粉体类样品离子束切割的扫描电镜制样技巧 高分辨场热发射扫描电子显微镜 Sigma 300产品规格场发射扫描电子显微镜主要用于观察、分析和记录材料的微观形貌，以及可以通过配备ED......
蔡司高分辨场热发射台式扫描电子显微镜 Sigma 300适用于粉体类样品离子束切割的扫描电镜制样项目，参考多项行业标准圆派科学仪器。可以检测粉体类等样品。可应用于高分子材料行业领域。 粉体类样品离子束切割的扫描电镜制样技巧 放大倍率：10-1,000,000倍, 根据加速电压和工作距离的改变，放大倍数自动校准，低倍率与高倍率无需任何模式更换；电子枪：肖特基热......
蔡司高分辨场热发射台式扫描电子显微镜 Sigma 300用于测定粉体类，符合行业标准圆派科学仪器。适用粉体类样品离子束切割的扫描电镜制样项目。 粉体类样品离子束切割的扫描电镜制样技巧 高分辨场热发射扫描电子显微镜 Sigma 300产品规格场发射扫描电子显微镜主要用于观察、分析和记录材料的微观形貌，以及可以通过配备EDS能谱仪进行材料元素的成分分析。性能与优......
蔡司高分辨场热发射台式扫描电子显微镜 Sigma 300可以用在地矿/有色金属行业领域，用来检测炭纤维粉，可完成台式扫描电镜观测炭纤维粉貌项目。符合多项行业标准圆派科学仪器。 碳纤维粉可与树脂、塑料、金属、橡胶等材料复合，以增加材料的强度和耐磨性，用途广泛。不同应用对粉体的颗粒形态要求不同，扫描电镜是极佳的观测手段。 高分辨场热发射扫描电子显微镜 Sigma......