horiba椭偏仪
仪器简介： 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等，可测厚度范围为几埃至几十微米。此外，还可以测试材料的反射率及透过率。 技术参数： * 光谱范围: ......
专为VUV 测量设计，整个系统处于真空状态，无氧气吸收。具备高度准确性；独一无二的超快测量速度；快速样品室抽真空能力，方便快速更换样品；氮气消耗量少。产品特点50KHz 高频PEM 相位调制技术45 秒内完成充氮气2 分钟内完成样品室抽真空8 分钟内完成光谱全谱范围内测量两种工作模式：氮气清洗结合抽真空、连续氮气清洗光谱范围：147nm~850nm；147n......
UVISEL2是一款完全革新的全自动光谱型椭偏仪。继承并发展了经典机型UVISEL的高准确性、高灵敏度和高稳定性等技术特点的同时，配备革新的可视系统，多达8个尺寸微光斑选项，zei小达35×85μm2，适用于所有薄膜材料研究领域。是目前市场上独一无二的机型。技术参数：·光谱范围：190-2100 nm·8种光斑尺寸: zei小35 X 85 um·探测器：3......
在镀膜或刻蚀的过程中，实时监测样品膜的膜厚以及光学常数（n,k）变化。技术参数：·可实现快速、实时在线监测样品膜层变化主要特点：将激发和探测头引入生产设备，可实现：· 动态模式:实时监测膜厚变化· 光谱模式：监测薄膜的界面和组分......
HORIBA Smart SE智能型多功能椭偏仪仪器介绍：多功能性设计，配置灵活，具备多角度测量能力，可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单，快速，精确表征和分析的工具。技术参数：· 光谱范围：450-1000nm· 多种微光斑自动选择· 专利光斑可视技术，可观测任何样品表面· CCD探测器· 自动样品台尺寸：200mmX200mm；......
全自动化&高集成度&可视化光斑一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计，操作简单，可在几秒钟内完成全自动测量和分析，并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。1主要特点1. 液晶调制技术，无机械转动部件，重复性，信噪比高2. 专利技术成像系技术，所有样品均可成像，对于透明样品......
Film Sense FS-1™多波长椭偏仪Film Sense FS-1™多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器，可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现快速和可 靠地薄膜测量。大多数厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要简单的 1 秒测量，就 可以获得非常精密和准确的数据。 Film Sense FS-1™多波长椭偏仪采用寿......
AutoSE-一键式全自动快速椭偏仪全自动化&高集成度&可视化光斑操作简单，测试快速，为一般操作工人设计一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计，操作简单，可在几秒钟内完成全自动测量和分析，并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。主要特点1. 液晶调制技......
多功能性设计，配置灵活，具备多角度测量能力，可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单，快速，精确表征和分析的工具。技术参数：· 光谱范围：450-1000nm· 多种微光斑自动选择· 专利光斑可视技术，可观测任何样品表面· CCD探测器· 自动样品台尺寸：200mmX200mm；XYZ方向· 自动调节; Z轴高度>35mm主要特点......
仪器简介： 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等，可测厚度范围为几埃至几十微米。此外，还可以测试材料的反射率及透过率。 技术参数： * 光谱范围: 190-885 ......