用jsm-6330f型扫描电子电子显微镜
重新构想的大批量自动化 S/TEM 成像和测量技术成像和计量技术快速、准确的数据精准的数据。Metrios DX 是一款彻底重新设计的 80-200 kV 扫描 / 透射电子显微镜，能够以前所未有的吞吐量提供基于 TEM 和 S/TEM 的、可重复的成像、分析和可测量计量结果。Thermo Scientific™ Metrios™ DX TEM 将成熟的技术......
Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM是首台支持一体化ColorSEM技术进行直观元素分析的钨灯丝扫描电子显微镜。Prisma 配置环境真空模式，并可灵活配置，多种配件选项能够满足各种需求。学术和工业研究实验室需要利用现代化SEM从最广泛的样品中获得大量数据，并获得出色的图像质量。同时，由于多数实验室均为多人操作或管理设备，SEM要......
Helios DualBeam™扫描电子显微镜......
Apreo功能最为丰富的高性能 SEMApreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术，可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。Apreo 是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台，而不会降低磁性样品性能。传统的高分辨率 SEM 透镜技术分为两类：磁浸没或静电。FEI 首次将两种技术结合到一个仪器中。这样做所产生的成效远远超过任一种镜筒的个体性能。两种技术均......
点击查看下载 扫描电子显微镜日本电子扫描电镜 样本相关资料，进一步了解产品。 JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者，近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好，稳定性强且智能化程度高，操作得心应手，是材料表征和分析的绝佳选择。 JSM-IT300HR是JEOL InTouchScope系列的新机型。采用了新型电子枪和透镜系统的JSM-IT300HR ，......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载赛默飞 SEM扫描电子显微镜Prisma E 其他资料相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X 射线能谱仪（EDS）结合使......
点击查看下载赛默飞 SEM扫描电子显微镜扫描电镜 应用于其他化工相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X 射线能谱仪（EDS）结合使用......
配置丰富NANOS标配 二次电子探头（SED）、背散射探头（ BSD）、一体化集成能谱探测器（EDS） 及优中心设计样品台。设计优良NANOS采用了可靠的现代设计，并采用了最新的成像技术和成分分析探测器。售后维护方便NANOS的设计使您可以轻松进行维护和升级，这些维护和升级可以在您的场所完成，无需售后工程师上门。可靠性高凭借出色的稳定性和较小的占地面积，NA......
全自动、高生产率的半导体计量工作流程Thermo Scientific Metrios 6 （S）TEM 是新一代全自动计量解决方案，可提高生产率和数据质量，适用于大批量 TEM 计量。Metrios 6 （S）TEM 具有全新设计的硬件和基于机器学习的功能，与上一代解决方案相比，生产率平均提高了 20%。Metrios 6 （S）TEM 包括新的智能载物台......