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TESCAN MIRA 是最新推出的第四代高性能扫描电子显微镜，配置有高亮度肖特基场发射电子枪，在TESCAN 的 Essence™ 操作软件的同一个窗口中实现了 SEM 成像和实时元素分析。这种结合大大简化了从样品中获取形貌和元素数据的过程，从而使得MIRA 成为质量控制、失效分析和实验室常规材料检测的有效分析解决方案。TESCAN MIRA 具有创新的光......
RISE 是一款新型的关联使用显微技术，结合了扫描电镜和共聚焦拉曼成像。通过RISE可以同时获得超微结构表面分析以及分子化合物的信息。石墨烯样品的 图像。彩色共聚焦拉曼图像。颜色显示石墨烯层和褶皱。图像参数：μ×μ，×150 像素=22500谱图。采集时间：0.05s/谱图。右侧的是 SEM 图像与共聚焦显微镜拉曼图像叠加。RISE将扫描电镜和共聚焦拉曼光谱......
TESCAN SOLARIS X是一款氙（Xe）等离子超高分辨双束FIB-SEM系统，配置新颖的TriglavTM 超高分辨率电子镜筒以及zei新款的iFIB+TM离子镜筒，它的超高分辨表征能力和无与伦比的样品制备效率，足以应对半导体和材料表征中zei具挑战性的物理失效分析工作，实现大体积三维样品特性分析。 ......
TESCAN SOLARIS 新一代超高分辨镓离子FIB-SEMTESCAN SOLARIS 是一款镓离子源的 FIB-SEM 系统，适用于超薄 TEM 样品制备和其它具有挑战性的纳米加工任务，这些任务要求设备具有zei佳的分辨率、zei先进的离子光学系统和zei好的纳米加工能力。TESCAN SOLARIS 的 Triglav™ 型 S......
TESCAN CLARA 超高分辨场发射扫描电子显微镜（SEM），前所未有的材料表征能力CLARA 是一款应用广泛的多功能扫描电子显微镜，是基于成功的S8000 基础上进一步研发的，其设计更能满足材料科学的需求，适用于对各种不同类型材料的分析和表征。 CLARA 的分辨率可以达到亚纳米级别，能够揭示材料最细微的结构。 TESCAN 独特的 Wide......
场发射扫描电镜采用更为先进的肖脱基场发射光源。采用场发射光源后电子束能量更强，二次电子相(也就是我们平时所说的扫描照片)更加清晰，放大倍数在理想的情况下可以达到10万倍以上。同时，在进行EBSD的测试中也具有相当的优势。主要由电子光学系统、信号收集处理系统、真空系统、图像处理显示和记录系统、样品室样品台、电源系统和计算机控制系统等组成。TESCAN MIRA......
扫描电子显微镜是以能量为1—30kV间的电子束，以光栅状扫描方式照射到被分析试样的表面上，利用入射电子和试样表面物质相互作用所产生的二次电子和背散射电子成像，获得试样表面微观组织结构和形貌信息。配置波谱仪和能谱仪，利用所产生的X射线对试样进行定性和定量化学成分分析。TESCAN MIRA 是最新推出的第四代高性能扫描电子显微镜，配置有高亮度肖特基场发射电子枪......
FESEM 在材料科学、生物学、纳米技术等领域有着广泛的应用在材料科学中，FESEM 可以观察材料的微观结构和表面形貌，研究材料的性质和性能:在生物学中，FESEM 可以观察细胞和组织的形态和结构，研究生物学过程: 在纳米技术中，FESEM 可以观察纳米材料的形貌和结构，研究纳米材料的性质和应用。TESCAN MIRA 是最新推出的第四代高性能扫描电子显微镜......
场发射扫描电镜(Field Emission Scanning Electron Microscopy，FE-SEM)是一种高分辨率、高清晰度的电镜技术。其原理是在极细的钨(W)尖端处实现高强度的电场，这个电场可以帮助电子从钨尖端跃迁到样品上，形成高能的电子束，用来扫描和成像样品表面。TESCAN MIRA 是最新推出的第四代高性能扫描电子显微镜，配置有高亮......
FE-SEM主要包括场致发射和电子透镜系统两个关键部分。其中，场致发射是产生高强度电场的过程，通常采用极细的钨尖作为阴极，在其表面施加高电压，使兽尖表面的电子能够克服表面张力势垒跃出，并且形成高强度的电场。在这种条件下，钨尖表面的电子被聚集在针尖旁边近似球形区域内，形成一种被称为“自发致密区”(Self-Assembled DenseRegion，SADR)......