horiba gd profiler2 分析仪
GD-Profiler 2是一款可进行超快镀层分析的理想工具，非常适合于导体（和/或）非导体复合镀层的分析。可分析70多种元素，其中包括C、H、O、N和Cl。一次测试可轻松获取镀层元素深度分布、镀层厚度、镀层均一性及表面/界面等信息。GD-Profiler 2可分析几纳米到200微米的深度，深度分辨率小于1纳米。GD-Profiler 2采用了脉冲式射频辉光......
解密镀层工艺、解析镀层结构——Profiler 2辉光放电光谱仪是解密镀层工艺、解析镀层结构的强有力手段，可以通过元素变化获得镀层结构、层间扩散、元素富集、表面处理、镀层均一性等信息，从而改善工艺条件等。主要应用行业有金属冶金、半导体器件、LED芯片、薄膜太阳能电池、锂电池阴阳、光学玻璃、核材料等。GD-Profiler 2 作为超快镀层分析的理想工具，非常......
Thermo Scientific™Element GD Plus™ GD-MS货号: IQLAAEGAAMFABWMAFARedefine the analysis of advanced high purity materials directly in solid state with the Thermo Scientific™ Eleme......
固体样品中存在的几乎所有元素都可以常规检测和定量：许多元素可低至十亿分之一（ppb）水平。高生产率和低分析成本Element GD Plus GD-MS旨在以高样品通量提供出色的灵敏度和准确度，从而大大降低分析成本。快速流动离子源用户友好的源设计：< 1 分钟样品更换泵送时间短：< 10 分钟样品周转时间高样品通量：高达 5 个样品/小时更少的样......
使用赛默飞世尔科技™元件 GD Plus™ GD-MS 重新定义直接在固态下分析先进高纯度材料。对于高通量和超低ppb级检测限，Element GD Plus GD-MS是常规和研究应用中散装金属分析和深度剖析的最方便、最强大的工具。Element GD Plus GD-MS能够以相同的灵敏度和数据质量分析元素周期表中几乎所有的导电和非导电材料元素。通过专用......
日常操作Element GD Plus GD-MS以常规操作和高通量为核心设计。线性动态范围超过 12 个数量级，可同时分析基质元素 （%）、痕量 （ppm） 和超痕量 （ppb）不同检测模式之间的自动交叉校准确保可靠的结果样品真空室：消除样品和GD池之间的泄漏风险无需校准标准品即可在单次扫描中快速测定元素浓度（使用标准RSF方法）在较短的分析时间内实现最佳......
点击查看下载GD Profiler 2 GDS堀场HORIBA 应用于涂料相关资料，进一步了解产品。 现在，大多数的材料都是多层结构，比如太阳能光伏电池、LED、硬盘、锂电池电极、镀层玻璃等。它们表面经过特殊处理或采用了先进镀层来改善材料性能，如提高耐腐蚀能力。 GD-Profiler 2是一款可进行超快镀层分析的理想工具，非常适合于导体（和/或）非导体复合......
点击查看下载HORIBA 射频辉光放电光谱仪GD Profiler 2堀场HORIBA 应用于纳米材料相关资料，进一步了解产品。 现在，大多数的材料都是多层结构，比如太阳能光伏电池、LED、硬盘、锂电池电极、镀层玻璃等。它们表面经过特殊处理或采用了先进镀层来改善材料性能，如提高耐腐蚀能力。 GD-Profiler 2是一款可进行超快镀层分析的理想工具，非常适......
为确保 ICP-OES 分析的稳定性和性能，安捷伦提供了全套单元素和多元素标准物质组合，用于测试仪器的性能。 安捷伦的一系列标准品具有 NIST 可追溯性的保证，可实现极具价值、准确、可靠的校准。所有原料在任何时候均具有 99.999% 的纯度。 ......